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NI用户大会NIDays Asia在上海举行

新科技驱动下测试测量行业的机遇


  来源: NI 时间:2019-11-19 编辑:仪商清风
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11月14日,由NI(National Instruments)主办的年度用户大会NIDays Asia在上海正式开幕。历经20多年的发展,NIDays今年全新升级为NIDays Asia,活动时间由1天扩展为2天,演讲场次和嘉宾规模同样翻倍,围绕“Full Force Ahead”的主题,与700+专业人士、共论2020产业未来!半导体、汽车、国防与航空航天与院校,是NI目前最为关注的四大核心阵地。本次大会,NI邀请到这四大领域的专家及NI的众多合作伙伴,帮助大家梳理颠覆性新科技驱动下测试测量行业的机遇,并发布重磅新品,为产学研、行业应用提供一个前沿交流平台,从而帮助工程师从容面对科技爆发的时代。本次大会既是今年新兴技术推动下测试测量技术发展的总结,也是明年新形势展望的开端。



研发是衡量科技发展水平的重要指标,也是创造力的来源。根据OECD Science数据,美国和中国的研发支出遥遥领先,均超过4000亿美元。对研发的高投入也让NI一直受益,NI将营收的19%用于研发。


更持久的创造力在于更大范围的协同创新,正如历届NIDays的Keynote环节一样,NI及合作伙伴将共同展示携手创造的力量,Qorvo、ADI、法雷奥、现代汽车、钱学森实验室、清华大学、上海交通大学等公司/院校的专家均重磅亮相。

在颠覆性应用爆发的历史阶段,迎接半导体产业的机会


跨越Sub-6GHz到mmWave,Qorvo亮出5G演进路上的杀手锏


今年,5G似乎经历了不少“如有神助”的时刻:6月6日,工信部正式向中国电信、中国移动、中国联通、中国广电发放5G商用牌照。10月31日,在中国国际信息通信展览会上,三大运营商正式推出5G商用套餐,5G商用进程进一步加快。


NI全球半导体测试市场开发总监章晨介绍了NI与射频领域专家Qorvo的合作成果。章晨表示:“从LTE过渡到5G,测试任务急剧加重。LTE时代为74个,LTE Advanced时代是140个,5G时代飙升至600个。”



从Sub-6GHz到mmWave的演进


随着5G使用频段从Sub-6GHz到毫米波频段推移,测试方法也应有相应的改变。Sub-6GHz的测量方式主要使用传导测试或者射频线缆相连的方式进行测量,测试的难度集中在两点,协议的变化和测量带宽的增加。毫米波频段的测量,由于毫米波频段芯片的尺寸大大减小,且毫米波芯片会集成毫米波天线,从而在6GHz以下使用的传导测试等方案不再适用于毫米波频段芯片的测量,毫米波频段通常需要OTA(Over-the-air)的测试方法。章晨强调:“毫米波频段的设计和测试方法均与以前大为不同,Qorvo与NI配合采用新的测试方法确保射频器件的性能。”


应对5G测试,NI 10多年前就开始“在线”。每隔一段时间都会推出应对新挑战的新产品,本次大会也推出了一款颠覆性新品。


NI的5G“旗舰”——mmWave VST迎接毫米波测试的挑战


为了更好的支持5G发展进程,早在2019年5月,NI就极具前瞻性地推出了可以用于实验室和量产的mmWave VST。该产品用以解决5G毫米波RFIC收发仪和功率放大器带来的测试挑战。通过将旋转DUT的运动控制与mmWave VST 同步,尽可能消除测试中的延迟,还可以有效地提高测试效率,将测量时间从现在测试技术的6分钟减少到 23秒,速度提升了15倍。



NI mmWave VST——应对5G毫米波测试


ADI如何通过大规模部署NI STS系统提高战斗力


从历史规律来看,半导体行业的每次突破都与重大科技创新有关。5G的星火燎原之势,IoT的厚积薄发,AI的不断进化……由此构成的智能时代将为半导体带来新的机遇,与此同时,新科技带来的百花齐放的应用、对芯片性能及尺寸、和上市时间的要求,推动着芯片产业链的公司积极从设计及测试维度寻求更优的解决方案。

模拟芯片领域佼佼者ADI公司与NI合作已久,NI高级客户经理Jose Roberto Reyes指出:“为应对这些挑战,传统的ATE是远远不够的,工程师们都希望用测量IP,减少实验室与量产测试之间的鸿沟。”

也许,新的细分应用领域的厮杀还没有正式开始,但作为基础的芯片公司必须提前做好准备。ADI已经通过大规模部署NI STS系统,跨越从实验室到量产的测试,减少测试时间,降低测试成本,加快产品的上市时间。
Jose Roberto Reyes表示:“NI STS可以显著减少测试成本和占地面积,同时STS对于5G收发器产品的支持也非常好,另外则是高度的可靠性,平均故障间隔时间超过10000小时。”



实现从实验室到量产的统一平台测试,STS优势明显


给汽车行业加点动力

关键词:NI 用户大会 测试测量    浏览量:899

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