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5个NI半导体测试解决方案业内大咖们打几分?


  来源: NI 时间:2018-03-30 编辑:扬舟
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Qorvo发布的首个5G射频前端模块,针对这款前端模块的PA,采用了NI平台进行测试。借助NI 1GHz高带宽的最新矢量信号收发仪,集成高性能数字和功率测试模块,Qorvo构建了一个高度集成的测试平台。全新的NI-RFmx支持5G新波形(NR),可分析、测量与生成波形,帮助Qorvo工程师针对该5G RF FEM进行领先于市场的快速验证分析。

NI PXI测试系统的高带宽,出色的射频性能以及灵活性对帮助我们推出业界首个商用5G前端模块至关重要。”——Paul CooperDirector of Carrier Liasion and Standards, Qorvo Mobile Products

毫米波成功应用

5G原型验证测试到汽车车载毫米波雷达测试,NI毫米波系统利用灵活可扩展的模块化仪器加速从基带到射频前端的原型验证及测试系统。

 

此系统结合灵活的模块化硬件和强大的软件,提供了针对毫米波频段的射频实时传输系统,支持高达2GHz带宽信号收发,适用于双向和单向系统的基本配置,可从SISO扩展到MIMO。由高性能模块化仪器组成的毫米波收发仪,可组装成不同的配置来满足不同应用的需求,例如信道探测、MIMO通信链路原型验证、MMIC原型系统和5G RFIC测试等。

系统特点:

  • 2GHz带宽
  • MIMO系统支持 
  • 大功率输出的射频头支持OTA测试

案例3PMIC电源管理芯片测试

 

挑战:

随着芯片集成度增加,电源管理芯片(PMIC)的结构不仅仅采用单一拓扑结构如Buck电路进行设计,也会向多个模拟输出通道、数字芯片控制等高集成度方向演进,需要更高密度、更高精度及模拟、数字测试的整合测试系统。

NI方案优势:

通过高精度、高密度的源测量单元、示波器、Pattern数字波形生成仪器实现效率、线性/负载调整率、瞬态响应等验证分析及量产测试,并以模块化仪器方法大幅提升测试速度,减少测试成本。

 

NI方案深度剖析

 

德州仪器使用NI软硬件

提高固件测试平台吞吐量、覆盖范围和可靠性

挑战:

开发一个可扩展、简单易用的模块化解决方案,可支持数百组电源管理IC(PMIC)的测试序列;且能与多种仪器、评估模块、源测量单元(SMU)进行交互。

客户引言:

“使用NI TestStandLabVIEW,我们成功地将冗长的手动测试过程转换为高度自动化的测试循环,并将原本长达数个星期的回归测试周期缩短到仅仅几天;同时还提高了系统稳定性、可重复使用性和可维护性。”——Sambit Panigrahi Texas Instruments

案例4:数据转换器ADC/DAC测试

 

关键词:半导体 测试测量 模块    浏览量:3022

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