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微波功率半导体芯片在片设计测试解决方案

基于3672系列矢量网络分析仪平台,提供全国快速响应技术支持与服务


  来源: 中电仪器 时间:2019-08-08 编辑:伊敏
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自研探针

 

可扩展至500GHz

 

全国快速响应的技术服务与支持

采购方式灵活,支持整套系统采购和在原有设备基础上集成升级。

可进行快速技术支持响应。

 

功能

增益及常规S参数测试功能;

二维增益压缩快速测试功能;

有源互调快速测试功能;

脉冲S参数一体化测试功能;

八通道频谱模式快速测试功能;

无源负载牵引测试功能;

有源负载牵引测试功能;

基于冷源法的等噪声圆测试功能;

热态参数测试功能;

放大器功率增益效率测试;

支持Cascade/MPI等多种探针台;

支持主流功率半导体建模仿真软件;

支持主流的行为模型,独家发布W参数模型;

微波探针台与探针定制;

支持功率半导体材料微波显微测试;

应用

常规功率半导体器件S参数测试;

功率半导体器件建模;

功率半导体管芯及芯片的在片测试;

超宽带大功率宽禁带半导体设计;

放大器的有源负载牵引测试;

THz频段芯片及器部件的在片研究;

功率半导体材料的失效分析。

关键词:半导体 测试 氮化镓 分析仪 芯片    浏览量:10618

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