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立足LTE测试测量 展望通信大格局(三) ——2014 LTE测试测量核心技术大会圆满召开


  来源: 仪器仪表商情网 时间:2015-08-21 作者:Stanford
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(特邀嘉宾聚精会神听演讲)
       大会由深圳市科学技术协会孙楠处长主持开幕,大会现场主持是深圳市仪器仪表学会樊宽林副会长和深圳市仪器仪表学会向天明副会长。在致辞中,深圳市仪器仪表学会樊宽林副会长表示:作为一年一度的(深圳)仪器仪表与测控自动化高峰论坛,已形成了一个集行业交流,技术研讨,观点碰撞,行业自律,引领发展的重要会议。过去的一年,我国仪器仪表与测控自动化产业在政府有关部门的指导下,在全体行业从业人员的共同努力下,产业布局更趋理性,市场发展更加平稳,技术攻关取得突破,产品创新更具个性化。数字化、智能化和集成化技术得到提高,呈现出高可靠性、多功能和高适用性发展的鲜明特色。学会工作在大气候、大氛围、大环境的感染下,在全体同仁的共同努力下取得了较好的成果。
(深圳市科学技术协会孙楠处长)
(深圳市通信与互联网协会刘玉彤秘书长)
(深圳市仪器仪表学会樊宽林副会长)
(深圳市仪器仪表学会向天明副会长)
      主题演讲:共享LTE前沿创新热点
       本次大会在特邀嘉宾致辞后,由6位主讲嘉宾先后进行了技术发表,他们分别:北京邮电大学徐国鑫博士发表《移动互联网时代的测试技术创新》主题演讲;工业和信息化部电信研究院泰尔实验室通信计量部副主任周峰发表《若干LTE候选频段电波传播特性的测量》主题演讲;中国电信广东研究院移动通信研究部高级专家林奕琳博士发表《4G核心网性能测试》主题演讲;华为技术有限公司高级营销经理叶薄发表《LTE标准演进及5G的进程》主题演讲;中兴通信学院无线技术专家郭磊发表《4G时代的大数据测试》主题演讲;是德科技(中国)有限公司无线应用工程师孔令熙发表《LTE 终端设备预认证和一致性认证测试的挑战》主题演讲。
 

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