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日置(HIOKI)·新品阻抗分析仪IM7583,IM7585 可测量高频达600MHz(IM7583)、1.3GHz(IM7585)


  来源: 仪器仪表商情网 时间:2015-09-17 作者:Stanford
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仪器仪表商情网讯:在信息化的现在社会中,智能手机等移动设备通过LTEWi-FiGPS等,向高频化发展,而且该带宽达到了数GHz。随之,移动设备中所使用的高频感应器和铁氧体磁珠等电子元件也向高频化发展。这些电子元件从按照数百MHz1GHz的高频来进行出厂检查,所以对于高频测量仪器的需求也日益增加 

HIOKI推出秋季新品,阻抗分析仪IM7583IM7585,这次将发售的2种机型,可以测量超过去年发售的IM7580(最高300MHz的高频测量)进行更高的频率测量。IM7583的测量频率是1MHz~600MHz,而IM75851MHz~1.3GHz,可以满足高频化的各种电子元件产品。



而且,IM7583IM7585两种机型通过最短0.5ms0.0005秒)的高速测量,能够快速的检查大量电子元件,从而提高电子元件厂商的生产效率。

其目标用户为:电子元件厂商的电子元件的出货检查,以及电子仪器厂家的电子元件的入库检查和特性评估

与以往产品相比具备如下特点:

1.IM7583最高600MHzIM7585最高1.3GHz的高频测量

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