早期的通信设备通常采用的是多个分立元器件，包括滤波器、功放、双工器等。随着5G时代的到来，为实现高速率、低延迟、广泛连接的要求，采用了MIMO、多天线等技术，从而要求元器件的尺寸越来越小、集成度越来越高，例如射频前端模块，就是将天线开关、放大器、双工器、滤波器等集成在一起，元器件开始朝着多端口、高度集成化、更加复杂的方向发展，技术的复杂性呈指数级增长，因此也给相应的测试带来了诸多挑战。
1. 测试的参数越来越多。
传统元器件测试通常只需测S参数等。5G时代元器件测试，除了S参数之外，更是增加了诸如EVM、ACP等调制失真性能的分析要求，测量参数急剧增加。
2. 测试效率要求更高。
多端口元器件的测试量很大，要求测试效率必须很高，否则就需要非常长的时间才能完成整个测试。
3. 测试精度、稳定性要求更好。
相较于传统元器件，5G时代的多端口器件对于测试系统提出了更高的要求。专门为多端口测试而优化设计的测试设备，可以保证测试结果的高精度、高稳定性。
传统的多端口元器件测试，通常采用
1)2端口或者4端口网络分析仪进行多次测量
【优点】
方法简单、仪表成本低。
【缺点】
测试时间超长、过程复杂。
2)基于网络分析仪和开关矩阵的多端口测试系统
【优点】
一次连接所有端口，无需改变连接。对于动态范围和精度要求不高的测试场景，具有较低的成本。
【缺点】
系统动态范围下降，测试精度和稳定性不高，测试时间长、过程复杂，校准困难。
当上述解决方案不足以跟上5G时代多端口测试的步伐时，Keysight针对多端口测试的需求，对VNA进行了重新构建和优化，提供了现代多端口设备测试所需的灵活性和测量完整性，具有更高的测量性能和准确性，提高了测量效率和吞吐量，最大限度地降低了测试成本。
基于PXI架构的模块是一个完整的VNA，通过级联和同步可以创建一个完整的多端口测试系统，也可以将模块配置为具有多个独立VNA的多站点测试系统。配置的灵活性意味着可以轻松更改设置以满足不同的测量需求，提高测试吞吐量。
除了易于配置之外，多端口VNA与基于开关的测试系统相比还具有显著的测量速度和性能优势。基于开关测试装置的VNA需要执行多次单独的扫描，以将测试信号连接到每个 DUT端口。随着待测件端口数量的增加，传统的2端口或4端口VNA所需的扫描次数、时间急剧增加，而多端口VNA的优势就突显出来了。
多端口VNA可以快速进行扫描。基于开关的测试系统的开关衰减会降低动态范围，尤其是在较高频率的时候。多端口VNA始终如一的宽动态范围意味着可以使用更宽的中频带宽更快地进行扫描，大大提高测试速度。
多端口VNA缩短了校准所需时间。采用固态开关的测试系统很容易受到温度的影响，必须经常进行校准以确保测量精度。校准导致的停机时间会严重影响吞吐量；而多端口VNA具有较长校准间隔，可减少校准时间，提高测试速度，降低测试成本。
灵活的模块化配置、更快的测试速度和更高的性能，使得Keysight PXI VNA成为多端口测试的首选，从容应对5G时代元器件测试的挑战。
