微束XRF涂层厚度和材料分析仪，方便快速进行质量控制和验证测试，在几秒内即可获得准确的数据。
基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。
最大化精度，最小化浪费
当决定产品成败的差异小于1微米时，请选择X-Strata920进行精确镀层分析。
如果您在电子产品或金属表面处理行业工作，我们可提供适于您业务的解决方案。X-Strata920具有多种配置选择，可分析单镀层和多镀层（包括合金层）。
我们的内部专家会对常规和复杂镀层结构进行测试测量，确保您获得可靠、可重复结果以满足数百种应用，包括：PCB表面处理、连接器镀层、耐腐蚀处理、装饰表面处理、耐磨损处理、耐高温性等。
X-Stata920提供四种基台配置以适应任意形状的零件。带有标准或宽固定基台的开槽的样品舱适合处理小型零件或长而薄的样品，而加深样品舱则可灵活测量较高的零件。选择程控样品台，可自动测量多个样品或单个组件上的各个位置。
为工作选择正确的工具
通过选择比例计数器或硅漂移探测器（SDD），可确保拥有正确配置。
比例计数器适用于大多数应用场合，但对于含有少量种类元素的简单镀层结构而言，其效果最佳。当您需要分析更复杂的镀层结构或需要测量非常薄的镀层（<0.05μm）时，推荐使用SDD。
X-Strata920 这一出色的工具可确保样品符合规格，同时通过避免过度电镀造成的化学品浪费和减少电镀不足造成的废料和返工来降低成本。操作员只需加载样品，将其定位在屏幕上的目标下方，使用激光焦点对齐，即可开始测量。结果在几秒内即可显示出来，然后操作员可快速执行下一个任务。这意味着您可确保在操作中最大限度地提高生产力。得益于通过可追溯标准打造的优化校准方式，您将对结果的准确性充满信心。
使用X-Strata920可遵从各种行业标准，如IPC4552A、ISO 3497、ASTM B568和DIN 50987。
日立邀请您参加SFChina 2020 中国国际表面处理展
日期：2020年12月8-10日
地点：广州中国进出口商品交易会展馆A区
日立展位号：5.1B47
我们的解决方案：我们的镀层测厚仪、电子显微镜、白光干涉仪系列为从耐腐蚀和耐磨饰面到装饰饰面涂层的各种应用提供快速、无损检测。
欢迎您来现场与我们进行面对面的交流。
