随着5G/6G通信、毫米波雷达、可穿戴传感器等技术发展，天线的尺寸越来越小，并逐步向着微型化方向发展，以芯片天线、封装天线为代表的各类片上天线得到了快速发展和应用。由于异于常规天线的结构和性能特性，片上天线测试过程中面临着如何稳定馈电、准确获取空间辐射信号、准确提取出天线性能参数等难题。针对测试难题，电科思仪的片上天线测试系统可以帮助用户解决测试困扰。
图1 片上天线测试系统
图2暗箱内部实物图
1.基于显微辅助同步探针馈电技术；由于片上天线和探针都非常小，为了辅助馈电，在片上天线馈电平台上设计了电子显微镜，通过电子显微镜的显示器可以清楚地观察探针和馈电点位置，如图3、图4所示。
图3 探针馈电
图4 探针与馈电点实景图
2.基于自动避障的三维测试技术；由于暗箱空间有限，为了保障馈电平台安全，片上天线测试系统具有自动避障技术，能够自动完成片上天线的近场或远场测试，测试结果如图5、图6所示。
图5 三维立体图
图6 强度图显示
3.基于低散射结构的减振平台设计；减振平台中载片台用于承载片上天线，采用低损耗、低介电的材料制作，减小电磁反射对测试精度的影响。由于探针是易耗品，比较脆，为了防止机械装置运动带来的震动对探针造成损害，减振平台采用主动式减振基座进行了减振处理，如图7、图8所示。
图7 载片台
图8 减振基座
电科思仪研制的片上天线测试系统能够完成方向图、增益、极化等参数的准确测试，系统已在国内多家单位得到了应用，取得了满意效果，为各类片上天线的研制提供了测试保障。
