NI：芯片验证与电子测量自动化技术论坛（上海站）即将开启_企业动态

自动化测试如今已不再是产测的专属议题。随着芯片的集成与电子产品的多功能导向发展，混合模拟、射频与数字信号的测试增加了系统验证与测量的复杂度。

纵然产品的功能性验证与可靠度测试都可通过更多的自动化以有效缩短测试周期，真正的挑战却在自动化的实践过程却往往需要工程团队里的人才既懂软件控制集成又要专精电子测量。

对此，NI在2022年开启芯片验证与电子测量自动化技术论坛，并在深圳站、成都站的活动中广受好评。现在，第三站也来啦~

此次论坛将带您探索，如何有效利用软件框架，借力使力更轻松地将自动化于实验室中落地。讨论主题横跨从fA级的高精度DC测量、车规MCU可靠度到前瞻毫米波的B5G、6G技术；同时在技术议题上，深入浅出射频测试上EVM的优化与高精度ADC测试技术。对于电子测量最新技术和提升测试效率感兴趣的您绝不容错过，现场除了专家讲座外也将有实机演示。