辐射发射测量方法－1Ω/150Ω直接耦合法
德国LANGER公司开发和生产的用于测量IC引脚传导发射的1欧姆/150欧姆组件，符合IEC61967-4规定的两种测试方法：1Ω测试法和150Ω测试法。1Ω测试法用来测试接地引脚上的总骚扰电流，150Ω测试法用来测试输出端口的骚扰电压。
测试示意图
测试连接图
探头技术探头参数
辐射发射测量方法－磁场探头法
德国LANGER公司开发和生产的用于测量IC引脚的传导发射的磁场探头，符合IEC61967-6测试要求，磁场探头法是通过测试PCB板导线上的电流来评定集成电路的电磁发射。芯片引脚通过PCB板上的导线与电源或外围电路相连，因而它产生的射频电流可用一个靠近的磁场探头获取，由电磁感应定律，探头输出端的电压正比于导线上的射频电流。
测试示意图
测试连接图
探头技术参数
