仪器故障通常是由于六大因素造成的。今天我们就来讲解一下静电导致的仪器损坏，帮助工程师们春节后更好的使用维护仪器仪表。
仪器故障六大因素
1.接地不良
2.静电导致仪器损坏
3.电源质量导致仪器损坏
4.使用操作不当
5.元器件老化
6.使用环境不符合要求
7.其他
静电导致仪器损坏——静电防护误区
错误观点一：只有金属氧化物半导体(MSO)对静电敏感。
实验表明：除MOS器件对ESD极其敏感外，其他种类元器件也同样敏感。
元器件敏感分类
第一类：敏感度0-1kV
1.无保护电路的MOS的:场效应三极管(FET)和IC，特别是超大规模集成电路(VLSI)
2.微波和甚高频(VHF)三极管，IC,尤其是肖特基器件
3.精密集成电路稳压器—稳定度优于0.5%
4.精密薄膜电阻—0.1%级以上
5.低功率薄膜电阻—0.5%以上
6.双金属超大规模集成电路
第二类：敏感度1-4kV
1.带保护电路的MOS(CMOS,NMOS,PMOS)
2.肖特基二极管
3.线性集成电路
第三类：较不敏感的4-15kV
1.小信号二极管—1W以下
2.低速双极性逻辑电路(TTL, 二极管—三极管逻辑电路DTL, 高门限TTL)
3.石英，压电晶体和发光二极管
静电导致仪器损坏----静电防护误区二
错误观点二：只有未安装的元器件对静电敏感。
这种说法仅适用于：电路的所有敏感点都有保护电路的，尤其是那些连接到插头的敏感元器件的输入端都装有保护电路。
通常的情况下是安装在电路板上的元器件具有更大的ESD损坏的可能性，因为一根印刷先连接到几个器件，静电可以击中几个而不仅仅是一个器件。
静电导致仪器损坏----静电防护误区三
