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了解射频芯片测试相关的一些知识


  来源: EDA365电子论坛 时间:2021-08-17 编辑:仪器仪表WXF
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使用PXI信号分析仪测量IMD和TOI

互调失真(IMD)和三阶截点(TOI)是NI-RFSA软件前面板(SFP)的内置测量功能。进行这些测量时,可以将信号分析仪的频率设置为以两个基音为中心频率,以确保可以看见高于本地噪声的三阶失真产物。在NI-RFSA SFP上选择检测音,生成测量结果。NI-RFSA SFP会自动识别基音的功率差以及三阶失真产物的功率差,并显示正确的测量结果。有关PXI RF信号分析仪的更多信息,请访问ni.com/rf/test。



基音信号功率每增加1 dB,三阶失真产物功率增加3 dB


实际上,IP3/TOI是计算所得而非测量所得的结果。一阶产物和三阶产物之间的功率增加比是3:1,利用以下公式可以计算出IP3。



TOI是衡量射频前端性能的重要指标,因为IMD比率取决于功率电平。TOI的测量将IMD性能的要素与功率电平相结合,并通过一个数字来表示性能。  


IMD测量配置

根据IMD测量理论,执行该测量需要双音激励信号。在大多数应用中,配置双音激励信号的  方法是将RF信号发生器连接至RF功率组合器,如图13 所示。


 IMD测量需要连接至功率组合器的两个信号产生器

IMD测量需要连接至功率组合器的两个信号产生器


由于IMD是一种常见的测量方式,许多RF信号分析仪具有内置测量功能来测量IMD或IMD/TOI。事实上,NI-RFSA SFP可以自动检测基音和三阶失真产物,并计算出IMD比。

关键词:射频芯片 测试 知识    浏览量:12598

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