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5个NI半导体测试解决方案业内大咖们打几分?


  来源: NI 时间:2018-03-30 编辑:扬舟
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今天的话题是:NI半导体测试解决方案应该得多少分?直接上业内大咖们的考评。

案例1RFIC测试

 

挑战:

现代的射频前端模块越来越多地将更多模块(如功率放大器,低噪声放大器(LNA),双工器和天线开关)封装到单个组件中。而前端模块对多模对频段的支持也增加了整个测试的复杂性。

NI方案优势:

提供从射频前端模块测试,分立射频元件,射频收发机到射频MCU的领先RFIC测试解决方案。基于模块化平台设计,NI RFIC解决方案能轻松实现从实验室特征分析到量产测试的快速转换,大幅减少测试时间和成本。

NI方案深度剖析

 

高通使用NI PXI平台进行WLAN测试

“与传统堆叠式台式仪器相比,使用PXI平台我们提高了近200倍的测试时间,而同时也大幅提高了测试覆盖率。”——Doug JohnsonQualcomm

 

RFIC验证分析工具,最佳交互及调试体验

Ø 集成众多RFIC测试项目,友好的交互界面可实时更改配置,查看图表分析

Ø 多种仪器在同一工作界面操作

Ø 快速保存环境配置,方便进行二次测试及分析,并可导出配置进行自动化测试

高度并行测试优化,减少测试时间

Ø NI RFmx驱动可实现并行测试项优化管理,多种测试任务配合加速

Ø NI TestStand并行测试引擎提升多工位(multi-site)并行测试能力

Ø 基于FPGA的测试仪器实现高吞吐量测试

案例25G RFIC测试

 

挑战:

3GPP定义的5G三大关键性能指标:

增强型移动带宽(eMBB),大于10Gbps峰值速率

超可靠低延迟通信(URLLC),小于1ms的延迟

大规模机器通信(mMTC),大于1M/km2的连接

NI方案优势:

NI5G原型阶段已深度参与,通过NI软件定义无线电的开放平台实现对5G从大规模天线、毫米波频段、新波形等方向的研究。基于统一的平台,NI以软件为中心的模块化仪器能够充分满足针对于5G RFIC的测试要求。

Qorvo基于NI平台实现5G New Radio(NR) PA测试

 

关键词:半导体 测试测量 模块    浏览量:3059

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