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5G IC测试系统——TS-960e-5G

自动化5G芯片测试设备 具有量产的测试速度


  来源: 虹科电子 时间:2019-12-02 编辑:仪商清风
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随着5G的不断部署,基站,小型蜂窝,手机和工业设备将需要符合标准的IC设备。而这些部件纳入供应链,意味着IC制造商需要针对与5G芯片的自动化测试系统。自动化测试系统(ATE)将需要对在28 GHz和39 GHz以及6 GHz以下频段运行的无线电,波束形成器,放大器和其他部件进行测试;这就要求ATE中需要包含向量网络分析仪(VNA)和数字I / O等设备。在5G测试设备中,我们注意到越来越多的ATE公司正在进入5G大市场中。Marvin Test Solutions与Rohde&Schwarz合作开发5G IC的ATE系统,也将参与这场竞争之中。


图1:TS-960e-5G外观图


产 品 介 绍

1、 硬件部分


TS-960e-5G mmWave测试系统可提供高达50 GHz的测试性能。该系统将实验室级RF性能直接集成到mmWave被测设备(DUT)中,用于mmWave设备的多网站生产测试或设备表征。此外,MTS还提供全套数字和参数测试以及SPI / I2C接口支持,以便在功能上控制/监控被测设备。


主要组件(如图2所示):

 Rohde & Schwarz ZNBT40 24通道,40 GHz VNA
 Marvin Test GX7205 PXI机箱,为每个DUT提供一个专用32通道,100/125 MHz DIO卡,以及一个GX3104源测量单元(SMU)
 Rohde & Schwarz OSP320,增加了4个1×6开关,用于互调测试
 Marvin测试头具有产品接口,包括Seiko Epson 8040 Quad Site封装设备处理器的接口



图2:TS-960e-5G内部结构图


1) 开短路以及DC/AC测试

基本版的ATE中包含64个动态数字I / O信道,64个静态数字I / O信道,一个用户可程序设计电源,一个系统自检和夹具。动态数字I/O—GX5296,每引脚PMU功能,可以快速实现开短路以及DC测试;125MHz的数据速率有助于实现AC测试,结合GtDIO6xEasy软件,可以实现pattern文件的编写以及导入,用于验证基本的功能性测试。静态数字I/O——GX5733可以很好的实现切换功能以及环境变量控制;


升级版ATE可以扩展为256个动态数字信道,128个静态数字信道,极大的丰富了系统资源,有助于更大规模的量产测试。



图3:TS-960e-5G数字子系统


2) 射频功能测试部分


ATE中使用Rohde&Schwarz的ZNBT40是一款多端口向量网络分析仪,工作频率范围为9 kHz至40 GHz,最多可提供24个通道。该仪器可以同时测试多个DUT或测量一个DUT,最多24个通道。即使在具有大量埠的情况下,它也可以在3.5 ms的短测量时间完成201点的扫描。


ZNBT40具有高达135 dB的宽动态范围,高输出功率水平和具有高功率处理能力的输入。该仪器主要用于开发和生产有源和无源多端口组件,如GPS,WLAN,蓝牙和多频段移动电话的前端模块,且能够确定24通道DUT的所有576个S参数。


该网络分析仪没有显示功能,可以很好的节约空间——这对于自动化产品十分有理。它可以通过外部显示器,鼠标和键盘或外部触摸屏进行控制。



图4:TS-960e-5G射频测试子系统


3) Handler界面
对于需要与自动化处理器集成的生产测试应用,TS-960e-5G配备了一个inTEST操纵器,可以提供测试头的精确定位以及与自动探测器和设备处理器接口。TS-960e-5G的设备接口板(DIB)/接收器接口几乎兼容任何设备处理器。


图5:TS-960e-5G界面板


对于量产测试,系统配置EPSON NS-8040设备,该产品具有高稳定性,易操作维护等特点,可以进行多种封转形式芯片的测试工作。


图6:EPSON NS-8040


2、 软件部分


ATE中软件的执行环境为ATEasy,可以轻松完成测试程序的编写和执行管理工作;同时配有ICEasy半导体测试软件包;DIOEasy-Fit:pattern转换和导入工具;GtDio6xEasy:pattern编辑工具;5G VNA,VSA测试套件:可以进行频谱,时序显示及统计,数字调制分析等工作。


ATEasy支持Windows的多种APIs,包括Labview,CVI,Microsoft和Borland C/C++,Microsoft Visual Basic,以及Borland Delphi。



图7:测试程序集


总  结

关键词:5G 芯片 测试设备    浏览量:748

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