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深度热像仪新技术诞生!不用探头,实现远程测量!


  来源: 福禄克公司 时间:2020-07-30 编辑:清风
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近日,有媒体报导,科学家使用一种称之为深度热像仪的新技术,使得远程确定某些材料表面以下的温度成为可能。这种方法在传统温度探头不起作用的应用中可能很有用,比如监测半导体性能或下一代核反应堆。


这项技术可以帮助测量材料的热导率和光学特性,而不需要附加温度探头。这是一种完全远程、非接触式测量材料热物性的方法,也是以前做不到的。深度热成像可以实现对微观物体(如多层电子器件或液体和气体的宏观体积)的非接触式体积温度测量,以及同时对材料的光学和热学性质进行全光学测量。


图:在一个非对称加热的熔融石英窗口上进行了概念验证实验,提取了整个样品的温度分布。源:威斯康星大学麦迪逊分校参考期刊《ACS光子学》DOI: 10.1021/acsphotonics.9b01588


当然,作为一名电气工程师,对于那么前沿的技术,我们可能就是“凑凑热闹”,但是我们日常工作中确实离不开热成像技术的使用啊!


给大家举两个例子:


一、整流柜


可控硅整流装置不论在电力系统还是在现代工业的各行各业中已得到广泛应用。在电力系统中,既可作为系统控制、保护的工作电源,同是又可作为蓄电池的充电装置。由于设计、维护等原因,整流柜发生过热故障将造成严重的生产事故,红外热像仪可以在问题处于早期阶段及时发现,保障正常生产。



整流柜发热的原因有:

1,线路接头。因接触原因或接点氧化腐蚀导致接触点电阻升高而发热。

2,整流器质量差。有些整流器在出厂时没有经过严格检验,粗制滥造,质量较差,如:线圈匝数不足、绝缘能力不 够、线径过小、铁芯面积过小、空间间隙太大、硅钢片插得不紧等等。这些都容易使整流器发热,产生高温,以致 损坏绝缘、形成短路。

3,供电网络问题。过载、谐波都会造成整流器内部温度过高。


二、电力金具


在输配电系统中,有大量的金具等,常常由于接触不良、腐蚀或内部异常等各种原因,出现异常过热点,严重影响安全供电。使用红外热像仪可以准确地检测出过热点,及时排除隐患,确保供电安全。



电力金具发热的原因有:

1,氧化腐蚀。由于外部热缺陷的导体接头部位长期裸露在大气中运行,长年受到日晒、雨淋、风尘结露及化学活性气体的侵蚀,造成金具导体接触表面严重锈蚀或氧化,氧化层都会使金属接触面的电阻率增加几十倍甚至上百倍;

2,导线接头松动。导体连接部位在长期遭受机械震动、抖动或在风力作用下摆动,使导体压接螺丝松动;

3,安装质量差。


此外,热像仪还广泛应用于:线夹检测、互感器、过载/三相不平衡/谐波、电容器检测、电气接头、电磁感应造成的过热、变压器箱体、变压器油枕等检测。


工具推荐


热像仪应用如此广泛,我们忍不住给给大家推荐几款常用的、高性价比的热像仪。


说起热像仪,我们可能会想起电气工程师常用的TiS20+热像仪,这确实是一款高性价比的经典之作。



当然,在很多时候,我们也会希望在方寸之间,记录每一次微小变化。而福禄克PTi120热像仪,正好解决了便携小巧的问题。



关键词:深度热像仪 远程测量 探头    浏览量:4257

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