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虹科测试测量方案:万片电容老化失效测试系统


  来源: 广州虹科电子 时间:2020-12-15 编辑:清风
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系统介绍


该系统主要用于电容老化测试,通过给电容施加电压,同时同时施加高温和高湿的环境,来加速电容的老化,测试电容的可靠性。系统采用模块化设计,支持通道扩展,并且针对每一个电流通道都单独实现监测和控制断开的功能,保证系统在其中某一个电容失效(短路)的时候不影响其他的通道。系统适合进行大规模的测试,一次的测试容量可达几万片,因此采用了多电源供电的方式,可选的电源扩展规模,能支持多路电源,即在一次测试中可以配置不同的通道供电电压不同,从而实现了同一次长时间加热加湿的过程中测试多种规格的电容。极大提升测试效率。


虹科-万片电容老化失效测试系统


主要功能


1. 系统主要用于电容的老化测试

2. 系统提供高低温和湿度环境。

3. 系统支持一次测试中提供多组可调电压值,且每一路电压可以程控输入到任意一组电容上。

4. 系统可以实现对每一路的电流进行监控,当电容失效电流超限时可报警或者自动断开该路,不影响其他路的测试。

5. 电流监控可以自定义阈值。

6. 系统配备LED面板,试试显示每一路的失效情况。

7. 系统预留TCP通讯接口,可以实现通过TCP远程控制和获取测试数据。

8. 系统可以自动化测试并且生成测试报告。

9. 系统配备高阻仪,可以检测检测每一路的电容对应的阻值。

10. 测试通道可扩展,能达到一次2000+通道和四万片以上电容的老化失效测试,极大提升测试效率。


系统组成


为了达到灵活的电源配置,我们采用了基于LXI的大规模矩阵,可以实现电源和测试设备到电容组的任意路由,同时采用了虹科电流监控模块,可以同时监测上千个通路的电流,并且实现阈值的自定义和自动切断NG短路的被测件,保证系统在有短路的情况下仍然可以正常运行测试。


核心设备


1、基于LXI总线的大规模矩阵 :利用矩阵实现电源和高阻仪的信号路由

2、虹科电流监控模块:实时监控每一路的电流,拥有自定义阈值报警和可配置的超过阈值自动切断的功能

3、可定制的测试软件:具备了通讯,自动化测试,报表生成,测试管理,人机接口等功能


关于虹科测试测量


虹科是一家在测试测量行业经验超过10年的高科技公司,虹科与世界知名的测量行业巨头公司Marvin Test以及Pickering Interface合作多年,提供领域内顶尖水平的基于PXI/PXIe/PCI/LXI平台的多种功能模块,以及自动化测试软件平台和测试系统。事业部所有成员都受过国内外专业培训,并获得专业资格认证,所有工程师平均5年+技术经验和水平一致赢得客户极好口碑。我们积极参与行业协会的工作,为推广先进技术的普及做出了重要贡献。至今,虹科已经为全国用户提供了100+不同的解决方案和项目,并且获得了行业内用户极好口碑。


关键词:虹科 测试测量 解决方案 电容老化失效测试    浏览量:24073

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