与现有3U PXI数字子系统采用“单一”定时系统（其中所有I/O通道都用同一时钟边缘进行时钟）不同，每引脚动态定时系统提供了在多通道基础上独立和动态定位数据的灵活性。
此外，在模拟复杂的总线定时或测试脉冲宽度灵敏度时，数据格式（例如不归零或归零等）提供了更大的灵活性。
有了这些动态计时特性和数据格式，基于PXI的测试系统可以提供与大型ATE系统相当的测试能力。
动态计时意味着能够在测试步骤内以足够的分辨率移动边缘。
对于一个独特的定时系统的挑战是边缘位置将被限制在向量时钟速率的上升或下降边缘，并且对于一个完整的向量突发，边缘位置将是固定的。
例如，如果矢量时钟速率为100MHz，则边缘位置将被限制为5ns分辨率，且时钟速率较慢，从而导致相应的分辨率降低。为了充分表现和测试切换速率为100MHz或更高的数字设备，测试系统必须能够以1ns或更好的分辨率在数据/时钟边缘进行增量和动态移动。一个典型的应用是描述设备的设置和持续时间，这需要相对于时钟的数据增量移动。
为了执行此测试，数据（或时钟）相对于时钟（或数据）以小增量移动，从而允许设备实现完整的交流特性。使用数字子系统的多时间设置功能，可以为序列或测试步骤分配不同的值，允许时钟边缘通过设备的指定设置和持续时间范围。
在不求采用1-GHz或更高的定时时钟速率的情况下，一个提供足够的定时分辨率的解决方案是采用动态时序内插器。该内插器能够灵活地将驱动/感测测试矢量以1-ns或更好的分辨率定位在测试步骤内的任何位置，而不仅仅是在矢量时钟的边缘边界上。这种灵活性允许用户精确地创建矢量定时，而无需求助于过采样（over sampling）等变通方法，这是一种使用多个向量来实现中等边缘位置分辨率的技术。此外，“动态”编程引脚时序的能力极大地简化了时序Shmoo图的创建/执行、设备交流参数的验证/特征描述，以及WGL、STIL和VCD测试向量的转换。使用仅支持每引脚“静态”计时的仪器来执行这些测试需要更长的测试时间，在某些情况下，仪器的功能可能不适合应用。
通过将每针定时结构的特性与软件工具相结合，可以很容易地表现出数字和混合信号设备的动态性能。例如，通过使用二维Shmoo图，可以基于电源变化或其他参数来表征设备的性能。图4详细说明了这两个参数与电源变化的Shmoo图。在每种情况下，在一系列定时和电源条件下将测试向量应用于被测设备，并显示每个特定操作条件下的通过/失败结果。
图 4、建立并保持Shmoo图
总结：
下一代PXI数字仪器提供的功能和测试功能通常只能在专用的ATE半导体系统中找到。随着这些新的、先进的数字子系统的出现，基于PXI的半导体测试解决方案现在可以为数字、混合信号和射频测试应用提供更广泛的测试能力和功能。现在的PXI系统为验证、集中生产和故障分析应用提供了令人信服的测试解决方案，提供了与专用ATE相当的功能和性能。
