当前位置: 首页 » 技术方案 » 解决方案 » 通信 » 正文

基于自动夹具移除的光芯片在片测试方案


  来源: 电科思仪 时间:2022-04-11 编辑:清风
分享到:



中电科思仪科技股份有限公司的6433系列光波元件分析仪不仅能实现对光器件(电光器件、光电器件、光光器件)的S参数测试,也可实现对5G光芯片(PD芯片、LD芯片)的S参数测试。


(一)光芯片测试面临的问题


传统的测试方法通过校准片对探针进行校准,该方法虽然校准精度高,但是需要使用开路、短路、负载多个校准片,且需要用户自己创建校准标准,校准过程复杂,不利于用户对仪器的使用。



(二)测试问题解决的思路


6433x系列光波元件分析仪以公司3672x系列矢量网络分析仪为平台,通过基于自动夹具移除软件选件可实现光芯片(直接调制激光器、电吸收调制器、光电探测器)快速地测试,有效地解决光芯片S参数测试前链路校准的难题。测试时,将高频探针等效为夹具,通过自动夹具移除测量高频探针的时域参数,利用信号流图提取频域参数,形成s2p文件,进而通过射频去嵌入,实现光芯片的高精度S参数测试。



(三)解决问题的具体方法


以PD芯片为例,基于自动夹具移除的光芯片测试的测试连接如示意图所示,输出的光信号通过光纤跳线连接到被测芯片的输入端,被测芯片输出的电信号通过射频电缆连接到仪器的射频端口2。在测试时,首先通过自动夹具移除功能得到高频探针的s2p文件,其次通过射频去嵌入消除探针带来的测量误差,以获得被测芯片的真实S参数。



(四)测试的案例效果


利用自动夹具移除功能,光波元件分析仪能够准确测量得到高频探针的参数信息,在进行电光芯片或光电芯片测试时,消除探针带来的测量误差,进而高精度地表征芯片的S参数,如下图所示(基于6433光波元件分析仪实现)成功完成了光芯片在片测试。


基于自动夹具移除的光芯片在片测试方案


关键词:光芯片在片测试方案 光波元件分析仪 电科思仪    浏览量:7622

声明:凡本网注明"来源:仪商网"的所有作品,版权均属于仪商网,未经本网授权不得转载、摘编使用。
经本网授权使用,并注明"来源:仪商网"。违反上述声明者,本网将追究其相关法律责任。
本网转载并注明自其它来源的作品,归原版权所有人所有。目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如有作品的内容、版权以及其它问题的,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。
本网转载自其它媒体或授权刊载,如有作品内容、版权以及其它问题的,请联系我们。相关合作、投稿、转载授权等事宜,请联系本网。
QQ:2268148259、3050252122。


让制造业不缺测试测量工程师

最新发布
行业动态
技术方案
国际资讯
仪商专题
按分类浏览
Copyright © 2006- 861718.com All rights reserved 版权所有 © 星球国际资讯集团 广州德禄讯信息科技有限公司
本站转载或引用文章涉及版权问题请与我们联系。电话:020-34224268 传真: 020-34113782

粤公网安备 44010502000033号

粤ICP备16022018号-4