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5233D误码测试仪助力400Gbps高速光模块测试


  来源: 电科思仪 时间:2022-08-31 编辑:清风
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随着信息技术的不断发展和网络带宽需求的不断提升,下一代路由交换及数据中心设备需要支持更高的速率(≥200Gbps)以及与之对应的信号调制模式(PAM4),这也对以太网误码测试仪表提出了更高的要求。


中电科思仪科技股份有限公司基于5233D高速误码测试仪可以提供全套的误码测试解决方案。5233D主要用于光模块的误码性能测试,支持RS232和以太网远程控制,具有比特误码测试、误码率眼图、电压拉偏、预加重控制、幅度控制、温度与功耗监测及DDM监视功能。端口速率覆盖100Mbps~400Gbps,支持NRZ和PAM4误码测试,适合于多种光模块的研制和生产测试。



5233D通过控制光模块信号,实现光模块电信号测试或异常仿真,满足光模块功能检测和光模块可靠性检测需求。整机系统由机框,功能板与接口板组成。功能板与接口板组成一个单板系统,单板系统独立工作。功能板用来实现测试功能,接口板提供与光模块的接口,功能板和接口板模块化分离,可按需组合,支持多种类型光模块的测试。


5233D可以自动识别光模块种类并进行控制,包括SFP(SFP+/SFP28)、QSFP(QSFP+/QSFP28/QSFP56)、CSFP、CXP、DSFP、SFPDD、QSFPDD、OSFP、CXP3支持按端口和通道进行误码测试,可以为光模块提供电源和电压拉偏控制,同时支持命令式远程控制,适合定制自动化测试。


5233D误码测试仪的典型应用包括以下几个方面:


一、比特误码测试


5233D支持按端口或通道进行误码测试,并上报测试结果。



二、眼图分析


5233D可按端口或通道返回眼高、眼宽等信息。




三、光模块控制及信息查询


5233D可对光模块单独操作,包括上电、掉电、发光、复位等,可显示光模块状态、光模块I/O信号、光模块告警信息以及寄存器信息等。



5233D高速误码测试仪已成功应用于通信、网络靶场、科研教学等众多领域,助力科研、生产、测试、维保等多个环节,为信息船速和系统与设备提供先进的测试保障。

关键词:5233D误码测试仪 高速光模块 测试    浏览量:4330

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