当前位置: 首页 » 技术方案 » 解决方案 » 通信 » 正文

微米级光纤链路测试方案


  来源: 思仪科技 时间:2024-09-13 编辑:清风
分享到:



伴随着光通信技术的快速发展,硅光芯片、光器件、光模块及中短距离光通信网络(如机载、车载光网络)的精确故障定位与诊断,已成为研发人员工作中的瓶颈。上述场景对测试设备分辨率、灵敏度要求较高。为解决该难题,“思仪科技”推出了基于OFDR(光频域反射技术)的微米级光纤链路测试方案。


图 1  微米级光纤链路测试方案


本方案攻克了偏振衰落效应抑制技术、扫频非线性补偿技术、事件分析技术等难题,能够以20微米空间分辨率探测链路内部构成,单次扫描即可获取损耗曲线,最短测量时间仅需5秒。本方案可快速精确的提供各器件插回损、位置等关键信息,真正做到芯片级“可视化”。


a 全局视图


b 标记处局部放大


图 2  可调光衰减器模块测试效果


a 全局视图(红色:非导通状态,蓝色:导通状态,下同)


b 标记处局部放大


图 3  光开关模块测试效果


图2、图3为本方案实际测试效果图。凭借着微米级分辨率与高灵敏度的优势,图中测试曲线清晰反映了可调光衰减器模块、光开关模块内部密集的事件点(熔接点、耦合器、特殊结构等)。结合事件分析技术,微米级光纤链路测试方案能够对事件点进行自动检测,辅助用户精确定位故障位置,并获取关注区域插回损。对待测链路多次测量,长度测试重复性小于100微米。


思仪科技开发的微米级光纤链路测试方案可广泛应用于各类光通信器件的研发、生产领域,大幅提高用户测试效率,降低测试成本。同时本方案扩展性强,可根据用户实际需求添加功能模块、定制系统软件。思仪科技持续关注光电测试需求,致力于为用户提供优质的产品和服务,期待与您的合作。


关键词:思仪科技 微米级光纤链路 测试方案    浏览量:3420

声明:凡本网注明"来源:仪商网"的所有作品,版权均属于仪商网,未经本网授权不得转载、摘编使用。
经本网授权使用,并注明"来源:仪商网"。违反上述声明者,本网将追究其相关法律责任。
本网转载并注明自其它来源的作品,归原版权所有人所有。目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如有作品的内容、版权以及其它问题的,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。
本网转载自其它媒体或授权刊载,如有作品内容、版权以及其它问题的,请联系我们。相关合作、投稿、转载授权等事宜,请联系本网。
QQ:2268148259、3050252122。


让制造业不缺测试测量工程师

最新发布
行业动态
技术方案
国际资讯
仪商专题
按分类浏览
Copyright © 2023- 861718.com All rights reserved 版权所有 ©广州德禄讯信息科技有限公司
本站转载或引用文章涉及版权问题请与我们联系。电话:020-34224268 传真: 020-34113782

粤公网安备 44010502000033号

粤ICP备16022018号-4