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物联网时代:组件测试或迎来重重挑战


时间:2017-06-27 作者:五五
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近日,某知名企业的自动测试产品营销主管认为,应该把物联网区分为工业物联网和消费者物联网,而这两者的差异非常明显。工业物联网装置与消费型智能装置的可靠性、成本和寿命要求截然不同。这也反映了一个问题:组件测试将迎来更多的挑战和考量。

物联网(IoT)组件测试正面临新挑战,部分组件可以和标准半导体一样进行测试,但有些组件如强调安全性的微控制器和医疗设备、军事∕航天系统和汽车电子等装置使用的芯片,则需要另订测试标准,确保符合功能性的安全要求。


据报道,美商国家仪器自动测试产品营销主管Luke Schreier表示,谈到物联网时通常会考虑感测和联机这两个要素,因为物联网装置需要感知或与周围的世界互动,需要微机电系统(MEMS),联机方面则要考虑蜂巢式、Wi-Fi和蓝牙等不同标准。

Schreier指出,国家仪器在射频和模拟技术方面具有优势,降低测试这些装置的成本是未来的趋势,因为很多时候这些问题不须使用针对内存或微处理器设计的自动测试设备。

物联网是NIWeek 2017年会的主题,虽分属不同的市场区块但又具有某些共同特征,市场破碎是物联网最大的问题之一,需要更多定制化,但规模经济则来自于这些装置的共同点,因此目标应放在利用跨市场的工具和方法协助降低成本和开发时间。

业界人士指出,让测试设备能够一路适用到生产是最理想的,必须思考这些不同的工作流程阶段有什么是可以重复使用的?可能是编码或尽量缩短从实验室测试到生产测试的准备时间,或甚至人员培训。

工业物联网装置与消费型智能装置的可靠性、成本和寿命要求截然不同。Schreier表示,谈论物联网时通常必须将其区分为工业物联网和消费者物联网,两者的差异非常明显。

关键词:仪器仪表 测试测量 物联网 组件测试    浏览量:266

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