欢迎进入仪商网!

基于USB式创新型矢量网络分析仪的材料测试方案

美国Copper Mountain Technologies(CMT)是业内首家设计创新型USB式的高性能矢网,这种电脑控制的USB式模块化矢网,你永远不用担心在传统矢网常见的一些故障:按键不灵、屏幕不显、报告输出不便、打印不便等等问题。因为CMT的矢网用PC机控制。

CMT矢网包括单端口- R系列,轻巧便携,尺寸“袖珍”,频率覆盖从1M到18G的超宽范围将R系列的单端口矢网拿在手里,就可以方便的测量天线的驻波参数(见图1)。


图1:工程师用Copper Mountain科技的R54在现场测量天线性能

CMT的另一个小型化的系列产品是S系列(同时测量4个s参数测)和TR系列(同时测量2个S参数:S11、S21),包含75欧姆和50欧姆两种系统, 1.3G、3G、4.8G、6.5G、8.5G和18G几种频率范围,最新推出的S5180便携式矢网直接覆盖到18GHz。图2为S系列TR5048矢网测试现场。


图2:CERN(欧洲核子中心)的地下隧道工作站

CMT钴蓝系列是大动态范围和高速的完美结合,使得CMT的钴蓝系列在整个VNA市场上非常的独特,图4为钴蓝系列20G矢网C1220C。Cobalt FX系列更将CMT矢网测量频率拓展至110G,与传统的矢网相比,拥有极高的性价比,图5为频率扩展系列。


图4: C1220在使用中


图5:CMT的钴蓝频率拓展系列

基于Copper maintain矢网的材料测试系统

现代电子系统日趋复杂,大量的新材料被广泛地应用到各种电子系统中。作为介质材料应用的场景很多,例如 PCB 的基板材料、天线的天线罩、大功率真空器件使用的陶瓷材料、液晶材料等。在这些应用场景中,用户需要对材料的电气性能,尤其是作为介质的电气性能有足够准确的评估和认识,以便缩短设计周期、提升产品质量。这些性能由一组介电性能参数来描述。

通过对介质材料的介电性能进行准确测量,可以为研发、设计和生产场景提供第一手的数据,以便优化设计、改善工艺。介质材料的介电性能主要体现为相对复介电常数[εr]、相对复磁导率[µr] 两方面,电损耗角正切[tan(δε)] 和磁损耗角正切[tan(δμ)] 作为评估介质材料耗散性能的参数也常常被纳入考虑。

根据不同的材料特性,不同的精度要求有如下几种测试方法:传输反射法、自由空间法等。下面带状线谐振法为例:

图6 Teflon F4板材(聚四氟乙烯)测试现场


图7 带状线谐振法测试软件(Teflon F4测试数据图形显示)


图8 测试软件之数据管理(Teflon F4测试数据列表)

声明: 声明:凡本网注明"来源:仪商网"的所有作品,版权均属于仪商网,未经本网授权不得转载、摘编使用。
经本网授权使用,并注明"来源:仪商网"。违反上述声明者,本网将追究其相关法律责任。
本网转载并注明自其它来源的作品,归原版权所有人所有。目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如有作品的内容、版权以及其它问题的,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。
本网转载自其它媒体或授权刊载,如有作品内容、版权以及其它问题的,请联系我们。相关合作、投稿、转载授权等事宜,请联系本网。
QQ:2268148259、3050252122。