AI大模型掀起算力狂飙,带动高速互连产业链快速升级。数据中心网络向800G、1.6T加速演进,PCIe 5.0/6.0接口普及,光电器件、高速线缆及PCB背板的工作频率持续抬升。面对激增的高频测试需求,优利德推出VNA7000系列矢量网络分析仪。主流型号覆盖10MHz至67GHz,支持扩展至110GHz,精准匹配1.6T光模块电气接口与下一代高速器件测试余量,为移动通信、雷达卫星、半导体、高速光电及科研教育等领域,提供从研发验证到工厂量产的一体化高频测试能力。
核心指标
01
10MHz–67GHz主流覆盖
频率范围:10MHz~67GHz
动态范围:>135dB(典型值)
测量点数:2~20001
迹线噪声:<0.002dBrms@10GHz
测量速度:30μs/points
频率分辨率:1Hz
频率准确度:±0.05ppm
VNA7000系列配备15.6 英寸1920*1080 TFT触摸屏,具有精确的误差修正与校准功能,可通过LAN和GPIB接口进行系统互联。脉冲测试能力方面,宽度范围1μs到30s,开关比64dB。此外,VNA7000系列可以与MES系统对接,实现工厂的自动化批量生产测试。

02
扩展至110GHz,覆盖W波段
VNA7000系列主机频段覆盖至67GHz,并支持扩展至110GHz。作为毫米波器件测试的关键窗口,W波段集中了波导耦合器、毫米波放大器及卫星通信前端模块等核心器件的性能表征需求。扩频后,系统可精准完成波导器件的S参数测量与校准,充分满足5G毫米波,卫星通信、雷达等高频应用从研发到验收全阶段的严苛测试需求。

聚焦三大核心应用场景
场景一:光波器件精准分析

在光电测试应用中,VNA7000系列承担的是电域S参数测量平台的角色。待测件E/O、O/E转换的频响,需要配接O/E校准光模块,把光域信号转换回电域后送进VNA接收机,二者共同构成光电频响测试系统。系统建立后,可同时测量幅度和相位,待测件3dB带宽从频响曲线提取,群延迟从相位曲线导出。测量结果的准确性依托系统中标准探测器的绝对响应,通过去嵌剥掉夹具与适配网络的影响得到。系统可扩展到110GHz,轻松胜任更高速率的光电器件测量。
针对光电元件,其能获取电-光、光-电、光-光转换的宽带频响,所得结果具备溯源性与复现性,可服务于1.6T以上光模块的开发验证。
场景二:高速互连,信号完整性全面验证

高速数字设计的信号完整性问题随数据率提升愈加严苛,信号迹线的每英寸插入损耗成为关键指标。VNA7000系列可测量PCB传输线的插入损耗、回波损耗和阻抗特性,支持时域分析功能用于定位走线中的阻抗不连续点。无论是高频板材的介电特性表征,还是高速背板互连结构的信号完整性验证,VNA7000系列都能适配研发与生产阶段使用。
场景三:多被测件,毫米波精密测量

数据中心1.6T互连已迈入224G PAM4时代,单通道基频逼近56GHz,线缆上任何细微的阻抗起伏都会直接影响误码率,这对多端口射频器件与毫米波精密测量提出了更高要求。VNA7000系列矢量网络分析仪以10MHz~67GHz连续扫频、135dB大动态范围和差分四端口架构为基础,可高效完成插入损耗、回波损耗、TDR阻抗、近端/远端串扰及传播偏斜等参数表征,减少重复端口切换与测试配置时间,并通过时域门(Time Gating)与夹具去嵌入功能精准剥离连接器与转接头影响,还原铜缆、差分对及背板连接器的真实性能。在此基础上,凭借DDS架构的极速扫描以及配套开关矩阵,VNA7000系列可进一步缩短测试节拍、提升产线吞吐量与生产效率,有效兼顾研发深度验证与产线高效全检,满足1.6T高速互联、数据中心及多被测件的毫米波精密测量需求。
主要功能
01
校准能力
VNA7000系列可完成开路、短路、直通响应校准,增强响应校准,1端口校准,全2端口校准,全3端口校准,全4端口校准,支持多种标准校准件。

02
S参数测量
VNA7000系列支持完整的四端口测量,S11到S44 共16个参数,多端口器件的反射和传输特性都能完整表征。绝对功率测量方面,2端口机型配4个独立接收机,支持8种绝对功率测量模式;4端口机型配8个独立接收机,支持32种模式,接收机数量直接决定了多端口测量的并行能力。数据格式提供直角坐标、极坐标图和史密斯图三类显示,直角坐标下包括对数幅度、相位、扩展相位、正相位、群延迟、线性幅度、SWR、实部、虚部和阻抗幅度,用户可以根据被测件类型选最直观的显示方式。

03
夹具仿真器
网络嵌入/去嵌入功能可通过Touchstone 数据文件添加或去除所需网络数据,支持 A、B、C 三类布局连接;其中去嵌入可用于移除校准面与DUT之间的电缆、测试夹具等网络。端口参考阻抗转换功能可将50Ω下测得的测量值转换为任意端口阻抗下的测量值。匹配电路嵌入支持五种预设电路模型,也支持用户自定义文件。端口延伸则通过为单端端口设置电延迟来移动校准参考位置。

04
平衡设备评估
VNA7000系列平衡设备评估支持SE-Bal、Bal-Bal、SE-SE-Bal、Bal布局,覆盖单端到平衡、平衡到平衡、单端-单端到平衡以及平衡的器件类型。测量参数上,通过平衡-不平衡转换可以直接得到混合模S参数和不平衡参数,用来评估平衡器件的差模、共模和平衡度表现。阻抗转换支持差动端口和共模端口两种,差模端口阻抗取转换前两个不平衡端口阻抗值的两倍,共模端口阻抗取该值的一半。差动匹配电路嵌入支持并联L-并联C模型,也可以以用户文件定义。

05
测量结果分析
VNA7000系列每条迹线最多可放置16个光标和1个参考光标。光标搜索支持最大值、最小值、目标值、峰值和带宽搜索。带宽测试用于测试带通滤波器的带宽;极限测试允许为每条迹线设置极限线,进行合格/不合格判断;纹波测试最多可以指定12个频带。时域变换支持带通和低通两种类型,可以模拟脉冲信号和阶跃信号的响应。

在当前高端测试仪器逐步走向自主可控的进程中,VNA7000系列的推出是优利德将射频技术积累向高频、高速、光电等前沿领域延伸的坚实一步。从实验室的精密研发,到产线上的MES自动化对接,优利德依托扎实的底层硬件和丰富的场景适配能力,逐步构建起一套完整且可靠的高频测试生态,助力高端制造筑牢测试底座。