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Enlitech推出全球第一套商业标准化的SPD特性测试分析设备


  来源: 光焱科技 时间:2022-03-30 编辑:仪器仪表WXF
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光电传感器表征专家光焱科技(Enlitech)日前推出全球第一套商业标准化的最新型单光子探测器 (SPD, Single Photon Detector) 特性测试分析设备SPD2200。光焱科技整合了所有先进光学与电学系统,提供完整与便利的软件控制接口与分析功能,助力客户加速直接飞行时间(dToF)单光子雪崩二极管(SPAD)产品的开发周期,提升竞争力。


单光子探测器 (SPD, Single Photon Detector) 特性测试分析设备SPD2200


测试分析


SPD2200具备的全光谱性能测试包含:

- 全光谱光谱响应 (SR, Spectral Responsivity)

- 全光谱量子效率 (EQE, External Quantum Efficiency)

- 全光谱光子探测率 (PDP, Photon Detection Probability)

- 暗计数DCR (Dark Count Rate)

- 崩溃电压BDV (Break-Down Voltage)


在不同电压下,SPAD光子探测效率的PDE光谱


SPAD的暗计数与偏压关系图


SPAD暗计数与崩溃电压


SPD2200亦能够测试SPD的单光子辨析特性分析,包含:

- Jitter

- Afterpulsing probability

- Diffusion tail

- SNR

SPAD的Jitter测量


适用范围

SPD2200适用各种传感器测试分析,包含:

- SPAD

- SPD (Single Photon Detector)

- SiPM (Si PhotoMultiplier)

- MPPCs (Multi-Pixel Photon Counter)

- dToF Light Sensor

- LiDAR Sensor

- Wafer Level SPAD

关键词:Enlitech SPD特性测试分析设备    浏览量:3092

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