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110GHz光波元件分析仪,助力解决光芯片测试难题


  来源: 电科思仪 时间:2023-11-29 编辑:白芷
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图1  Ceyear 6433P 光波元件分析仪(10MHz~110GHz)


随着5G/6G光通信带来的流量和速率的提升及物联网、云计算带动数据中心的大规模建设,400G光模块已成为下一代光通信网络和新一代数据中心的主流方案,其核心的光芯片带宽从50/67GHz逐步向110GHz演变。为解决大带宽光芯片的频响测试难题,思仪科技突破多项核心技术,重磅推出Ceyear 6433P光波元件分析仪(Lightwave Component Analyzer, LCA),产品调制频率范围覆盖10MHz~110GHz,频率响应重复性±1.2dB,可实现光芯片的带宽、平坦度、电反射等频响参数的测量。


光芯片研发和生产中,对带宽、电反射等指标的测试,可准确评估芯片的性能。6433P依据被测芯片的类型,搭配相应的光电/电光转换模块,采用超宽频带1.0mm同轴连接,构建“微波-电/光-光/电-微波”的测试链路,形成针对电光及光电芯片的频响测试解决方案,如图2为电光芯片(电光调制器芯片)频响测试解决方案。



图2  电光调制器芯片频响测试解决方案


6433P集成电电(E/E)、电光(E/O)、光电(O/E)和光光(O/O)四种测试功能模式,功能模式之间支持一键切换,方便用户结合测试场景,实现电光芯片(EAM、EAL等)、光电芯片(PIN、APD等)、光光芯片(EDFA、SOA等)及电电芯片(放大器芯片、混频器芯片等)频响参数的精确测量,如图3所示,以光电探测器芯片为例,6433P通过搭配探针台、高频探针,利用仪器自带的校准端面管理功能,提取高频探针的s2p文件,将该文件利用射频去嵌入功能,消除探针对测试链路的影响,完成被测件的测量。


图3  探测器芯片测试框图


通过电光器件S11、S21参数及光电器件S22、S21参数的测试,利用多窗口对比、3dB带宽分析等,用户能获取测试对象各频点的反射参数、传输参数等频响特性,满足科研、产品线等测试需求。


图4  探测器芯片的S21曲线



图5  探测器芯片的S22曲线


6433P的调制频率可下探至500Hz,满足用户低频段测试需求;最小1Hz的频率分辨率和最高200001点的测量点数,能够带来更丰富的频点信息和更精细的测量结果;配置四端口机型可实现平衡光发射或光接收芯片对差分增益参数的测试需求;配备的LAN、GPIB远程控制接口及SCPI指令集,为系统集成及自动化测试提供有力的保障。


6433P光波元件分析仪具有宽频带同轴覆盖、测试功能丰富、一键式快速扫频等优点,具备出色的微波及光电特性。灵活的硬件配置和丰富的软件功能相辅相成,助力用户解决光芯片频响测试难题。

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