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乘4G时代蓄势之时 助测量产业全发之势


  来源: 仪器仪表商情网 时间:2015-08-21 作者:Stanford
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“2014  TD LTE测试测量核心技术大会”将以全面的“通信测试测量前沿技术应用为驱动”市场为导向,强化产业路径,以新一代光通信技术和市场发展趋势推动测量测试技术为宗旨,全面系统地展示通信产业和测量应用领域的未来及宏观战局:4G  LTE通信产业最新技术进展,测试测量行业相关成果及市场发展方向等因此将直接决定今后的市场格局,因此本次大会特定向邀请通信及物联行业国际知名企业、运营商、权威专家、资深工程师等200多位嘉宾参会就4G LTE、100G、物联网测试测量应用等业界热门话题深度剖析和一一解读。对于参加本次技术大会的参会者,在某种角度上已经是“上下产业链的聚会”,让您结识更多的商业伙伴,为企业的发展积累下可贵的人脉资源。行业精英和有志之士共聚一起,共商解决之道,共同探讨4G核心网络、融合方案、测试测量设备及一系列的解决方案。本次大会将采用多种交流形式,多场精彩报告,最大程度的为参会者提供高效解决方案,解决有关“4G关联产业与电子测试测量技术”的疑难问题,创造与权威专家交流学习的难得机会。

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