集成电路产业是我国高新技术产业的一个重要部分，是《中国制造2025》中重要的一个领域。它带动了其它产业的蓬勃发展，集成电路已成为各个行业中电子、机电设备智能化的核心，起着十分重要的作用。
在电子电气中，更高集成度和使用度的集成电路将芯片内外耦合发生的几率大大增加，集成电路往往是辐射源的根源。
近年来越来越多的电路设计人员和应用人员开展集成电路的EMC设计和测试方法的研究，EMC性已成为衡量集成电路性能的又一重要技术指标。随着集成电路集成度的提高，越来越多的元件集成到芯片上，电路的功能和密度增加了，传输脉冲电流的速度提高了，工作电压降低了，集成电路本身的电磁骚扰与抗干扰问题已成为集成电路的设计、制造业关注的课题。
集成电路（IC）标准
1997年10月，国际电工委员会（IEC）第47技术分委会下属第九工作组（WG9）成立，专门负责对各种已建议的测试方法进行分析，最终出版针对集成电路EMI和EMS测试方法集合---IEC 61967和IEC 62132系列标准。
集成电路电磁兼容测试标准，目前出版的有集成电路电磁发射测试标准IEC 61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC 62132 。
IEC 61967标准，用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试，包括第一部分：通用条件和定义（参考SAE J1752.1）；第二部分：辐射发射测量方法－TEM小室法；第三部分：辐射发射测量方法－表面扫描法；第四部分：传导发射测量方法－1Ω/150Ω直接耦合法；第五部分：传导发射测量方法－法拉第笼法WFC；第六部分：传导发射测量方法－磁场探头法。
IEC 62132标准，用于150kHz到1GHz的集成电路电磁抗扰度测试，包括第一部分：通用条件和定义；第二部分：辐射抗扰度测量方法—TEM小室法 ；第三部分：传导抗扰度测量方法—大电流注入法（BCI） ；第四部分：传导抗扰度测量方法—直接射频功率注入法（DPI） ；第五部分：传导抗扰度测量方法—法拉第笼法（WFC）。
集成电路EMC测试标准除了电磁发射测试标准IEC 61967（用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试）、电磁抗扰度标准IEC 62132（用于频率为150kHz到1GHz的集成电路射频抗扰度测试），还有脉冲抗扰度标准IEC 62215。
IEC 62215标准，包括以下三部分——第一部分：通用条件和定义；第二部分：传导抗扰度测量方法—同步脉冲注入法；第三部分：传导抗扰度测量方法—随机脉冲注入法(参考IEC 61000-4-2和IEC 61000-4-4) 。
设备厂家
根据上述测试标准提供的测试方法，选用不同厂家的设备进行系统集成或测试。目前主要设备生厂商是德国LANGER，其他附件生厂商有美国FCC等。
德国Langer公司是专门研发生产集成电路（IC）测试设备及测试附件的厂家，产品种类丰富、测试附件众多，可满足集成电路多种方法测试要求。其产品包括：
EMI设备：表面扫描法的扫描仪及近场微探头（分辨率可达60μm）；1Ω/150Ω直接耦合法的电流探头和电压探头；磁场探头法的H-场探头和E-场探头。
EMS设备：BCI法和DPI法测试用注入探头及辅助设备；随机脉冲注入法测试用脉冲群信号发生器和注入探头及静电放电模拟器等。
EMI测试产品配置方案
辐射发射测量方法－表面扫描法，德国LANGER公司开发和生产的高分辨率电磁兼容扫描仪，能在4轴（ x,y,z和α旋转）运动，分辨率高达10μm，包括ICS 105 set，FLS 106 set和FLS 106 PCB set等三种型号，完全符合IEC 61967-3标准要求，也适合于手机等手持终端及PCB板的电磁干扰扫描。ICR 型近场微探头适用于 1.5MHz - 6GHz 频率范围内的测量，空间分辨率可达 50μm。
三款型号主要技术参数：
ICS 105 SET
