在科技日新月异的今天，物位测量技术已经从最初的重锤、投尺等传统的机械式测量方式(图1)发展为包含雷达、核辐射等高技术含量的测量技术，覆盖了工业生产中的绝大多数物位测量需求，核辐射技术因为其特殊性，应用范围有其局限性，在此不作赘述，而原先由军用雷达发展而来的雷达物位测量技术正日益成为物位测量的主流趋势。
所谓的雷达测量技术包含两种：微波雷达(非接触式)以及导波雷达，其中微波雷达技术随着成本的降低和在诸多苛刻工况应用中的优异测量效果得到广大用户的认可，但这并不意味着微波雷达技术就是一种万能的测量技术，可以测量所有的介质；相对而言，全新的导波雷达技术(Guide Wave Radar)恰恰弥补了微波雷达的不足之处。
雷达技术比较及导波雷达的原理
顾名思义，微波雷达物位计指通过空间发射、传播和接收电磁微波的物位测量仪表(图2)，导波雷达则是通过某一种形式的波导体来传导、发射和接收电磁微波的、物位测量仪表。
微波雷达仪表测量物位具有以下优点：
1、不与介质接触；
2、高频电磁波信号易于长距离传送，可测大量程；
3、不受空间气相条件变化的影响
微波雷达通过发射和接收高频(GHz)级电磁波，计算电磁波达到物位表面并反射回到接收天线的时间来进行物位测量，而电磁能量的传送不易受到传播空间性质的局限性，它可以在高/低压(真空)或具有汽化介质的条件下传播，并且气体的波动亦不影响电磁波的传播。
