摘要
示波器和频谱仪都是电子测试测量中必不可少的测试设备，分别用于观察信号的时域波形和频谱。时域波形是信号最原始的信息，而频谱的引入主要是为了便于分析信号，比如谐波和杂散的测试，从时域上很难观察到，但是从频域就可以非常明了的区分开。
示波器除了具有采集信号的基本功能，还可以对信号进行 FFT 变换得到频谱，从而兼具频谱分析功能。几乎所有的中高端示波器均支持 FFT 频谱分析。本文将要介绍的频谱分析功能——Spectrum View，是一款功能强大的频谱分析工具，它的引入开启了全新的时频域信号分析。
结合了 TEK049 ASIC 创新平台及 TEK061 低噪声前端放大芯片的频谱模式 -- Spectrum View 是获得高动态、低噪底的强有力保证。
图 1. TEK049 平台和超低噪声前端 TEK061
Spectrum View 特性一览
从实现方法上讲，Spectrum View 也是采用 FFT，但并不是直接处理采集的样点，而是先通过数字下变频(DDC 技术 ) 得到 IQ 数据，然后经过 FFT 得到信号频谱。这也是相对于传统 FFT 的一大特色。与原始采集信号相比，IQ 信号携带的频率要低很多，对 IQ 数据重采样无需太高采样率，大大降低了数据量，提高了处理速度。
无论与频谱仪比较，还是与示波器传统的 FFT 方法相比，Spectrum View 都具有自己的特色：
﹒Spectrum View 使得时、频域捕获时间相互独立，当设置较小的 RBW 时依然可以保证示波器的处理速度。传统 FFT 测试需要通过调整水平时基来改变RBW，在要求 RBW 很小的测试场景，需要增大水平时基，严重影响了示波器处理速度。
﹒Spectrum View 具有标准频谱仪的操作设置，如图2 所示，具有更友好的交互界面，可以直接设置中心频率、Span、RBW 及时域窗口的类型。
﹒Spectrum View 支持丰富的探测方式，且能够测试极低频率信号频谱，是普通频谱仪所不能及的；
﹒支持多通道时、频域联合分析，而且支持触发捕获， 使其可以分析瞬态或者间歇性信号的频谱；
﹒支持多种时间窗类型，可以根据待测信号的特性进行选择，以保证测试结果的精确性；
﹒支持峰值自动搜索功能，可以设定峰值搜索阈值，可显示多达 11 个 Peak Marker；
﹒支持 Normal、Max. Hold、Min. Hold 以 及 Average 等四种迹线显示模式；
﹒当显示多个通道的频谱时，既可以“堆栈 (Stacked) ”显示，也可以“重叠 (Overlay) ”显示；
﹒所有通道具有相同的 Span、RBW、FFT Window 及 Spectrum Time，但中心频率可以独立设定。
图 2. Spectrum View 操作界面
时频域并行分析
图 3 给出了信号采集和处理架构示意图，模拟信号经过ADC转换为数字信号后，时域和频域是并行处理的，从而可以独立设置时域和频域捕获时间。SpectrumView 支持滑动 Spectrum Time 的位置，对不同时段的信号作频谱测试，这使得对信号进行时频域联动测试成为可能。
图 3. 信号采集和分析架构示意图
作为示例，图 4 给出了一个跳频信号分析结果，同时给出了时域波形、频谱及跳频序列的结果。图中红色标记处为 Spectrum Time，即用于 FFT 分析的时间，其位置是可以移动的，测试的频谱就是当前位置对应的频谱。拖动 Spectrum Time 的位置，可以分别对不同的频点进行观测，当前观测的是频率切换过程中的频谱变化。
