随着社会对流量的爆发式需求,光通信速率已经步入1TBit/s门槛,光通信系统中光器件的波长相关损耗(WDL)和偏振相关损耗(PDL)的影响不容忽视,如何降低测试成本和难度,增加测试速度和精度越来越成为测试人员关注的焦点。针对WDL和PDL的参数快速测试难题,“思仪科技”最新开发了波长快速扫描测试方案(图1)。
图 1 波长快速扫描测试方案
本方案结合公司自主研发的6317A可调谐激光源、9951A光波测试平台,集成相关算法,优化了波长快速扫描测试。关于WDL的测试方法行业通用,但是PDL不同测试方法有不同适用场景(如下表所示),综合各测试方法的特点,穆勒矩阵法更适合 PDL波长特性的测试,因此本方案采用穆勒矩阵法。
通过实际的测试验证,“思仪科技”的波长快速扫描测试方案能够快速、准确地给出的WDL、 PDL测试结果,该方案体积小,集成度高,测试仪器由多台精简到两台,并可根据测试对象、测试需求扩展光衰减器、光开关等模块,降低了测试成本50%以上。方案最小采样时间可以达到10μs,准确度(典型值)可以高达 ±0.02dB(测试效果图2所示)。
图 2 波长快速扫描测试软件(可定制)
“思仪科技”开发的波长扫描快速测试方案可以快速完成光器件的WDL和PDL测试,可光广泛应用于波分复用模块(DWDM、CWDM)、波长选择开关(WSS)和集成光芯片的研发、生产和测试,同时该方案编程控制方便,可根据实际需求定制软件并集成,实现一机灵活多用。波长快速扫描测试方案指标如下:
·工作波长:1480nm~1610nm
·扫描速度:1nm/s~200nm/s
·最小采样时间:10μs
·PDL准确度(典型值):±(0.02+3% PDL) dB
·PDL重复性(典型值) :±0.01dB
·WDL准确度(典型值) :±0.02dB
·WDL重复性(典型值) :±0.01dB
- 关键词:思仪科技 光器件 测试方案
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- 来 源:思仪科技
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