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测量和控制系统融合:全新的边缘节点简化了工业物联网 ​


  来源: 21IC中国电子网 时间:2018-08-13 编辑:思扬
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图3.最新的CompactRIO控制器支持TSN,支持同步和确定性通信。


TSN的引入是解决整个系统同步挑战的重要一步。开发这些系统的工程师还在关注如何降低整体系统复杂性,同时保持或提高可靠性。由于测量和控制通常是独立的子系统,因此工具、编程环境和数据采集机制之间彼此独立。 PLC等控制系统通常采用IEC 61131-3语言编程,可对单点数据进行操作。这种类型的数据非常适合控制应用,但不适合提取信息 - 因此我们需要波形数据。同样,测量系统使用波形数据提供所需的信息,但并不适用于发送单点控制信号或确定地对单点控制信号作出反应。

测量和控制系统的这一特性非常直观明了。过去几年,测量和控制系统的融合进度非常缓慢。每个系统都增加了新的功能,以便更多的测量系统可以具有一些控制功能,或控制系统具有部分测量功能。随着最新CompactRIO控制器的发布,我们看到了这种融合有了重大进步。除了利用实时处理器和FPGA来实现确定性控制应用之外,新的控制器还可以使用易用且功能强大的NI-DAQmx驱动程序进行编程,从而实现测量应用。 NI-DAQmx不仅仅是一个基本的硬件驱动程序,不仅提供了配置和故障分析工具、逐步配置工具,而且提供功能强大且直观的API,大幅提高了工作效率和性能。工程师可以使用NI-DAQmx API来编写自定义程序,实现强大的定时和同步功能,并执行高级控制和监测任务。

对于需要同步高通道数系统、开发基于决策的记录仪或自动化实验室实验的用户,数百个示例、充满活力的社区和一流的本地支持可帮助他们快速从概念过渡到部署。通过这种融合,他们可以使用相同的硬件和单个软件工具链,直接在边缘侧采集、处理、记录和响应输入的数据,从而最终降低系统成本和复杂性。






关键词:测量 控制 工业互联网    浏览量:4363

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