在照明行业中，在测试9KHz-30MHz波段的EMI中有两种方法，一种是采用Antenna（天线）和EMI接收机，其依据标准是CISPR15，EN55015，GB17743。对于照明灯具可能产生的低频磁场设备，需要采用CISPR16-1-4规定的三环天线测量其低频磁场辐射骚扰。主要是由三环天线和EMI接收机进行测试，测试时需在屏蔽室室内进行。注：三环天线将X方向，Y方向和Z方向低频磁场分量转化为RF信号，并通过同轴开关三个通道输送到EMI接收机进行测量；另外一种是采用LISN测试方法，测试时需要由EMI接收机+人工电源网络+LISN和测试软件进行。传导骚扰测试系统用于测量灯和灯具照明设备在正常工作状态下电源端口产生的骚扰，LISN实现RF信号的隔离，采样，阻抗匹配，并为EUT提供电通道，EMI接收机对RF信号进行测量，并最终由EMI测试软件进行分析，处理和判限。测试时需在屏蔽室进行。
与此同时，在9KHz-300MHz波段的EMI测试中采用的是CDN法。在CISPR15，EN55015和GB17743标准中还提供另外一种照明设备的辐射电场骚扰测试方法，即CDN共模端子电压法。采用CDN法，主要包括EMI接收机，CDN和衰减器。测试时可以在屏蔽室内进行。
根据相关基础标准如CISPR16，力汕研发生产了两款EMI测试设备，而针对传统及新型照明行业标准，两款设备的扫描频率各不同， EMI-9KB EMI扫描频率为9KHz~300MHz，适合LED及传统照明设备的检测； EMI-9KA EMI扫描频率为9KHz~30MHz则主要适合传统照明设备的检测。而判定被测物是否符合标准，我们引用了峰值，准峰值和平均值三个值来判定，考虑到不同标准的差异，软件可直接调用GB17743、FCC、EN55015、GB4343等判定标准。
2.2、静电放电
LED属于半导体器件，在LED制造、装配、运输、存储、使用各阶段中，生产设备、材料、和操作者都可能给LED带来静电损失，导致LED过早出现漏电流增大、光衰加重，甚至“死灯”现象。静电放电对LED的电光参数包括反向漏电流、正向I-V特性、光通量均会造成一定程度的劣化。静电放电是影响LED及LED照明产品可靠性的重要因素之一。
LED是LED照明产品的关键材料。对于LED的静电放电抗扰度测试，应遵循相关国际标准如美国国家标准ANSI/ESD STM5.1、ANSI/ESD STM5.2，国际电子电工协会标准JESD22-A114D、JESD22-A115-A，美国军方标准MIL-STD-883等。上海力汕电子科技研发的的ESD61000-2静电放电发生器专门针对LED静电敏感等级判定要求及特点而设计，采用机器模式（MM）及人体模式（HBM）静电放电试验，静电放电电压最高可达30KV；LED电压、电流测量准确度可达0.2%；LED正向电压分辨率1mV；反向漏电流分辨率0.01μA。对于LED照明产品而言，其整体的静电放电抗扰度测试须按照GB/T 17626.2/IEC61000-4-2进行。接触放电是首选的测试方法，对LED照明产品机壳上每个可触及的金属部件（不包括接线端）进行20次连续放电，正负极性各10次。在无法进行接触放电的部位可使用空气放电。间接放电应根据GB/T17626.2的规定施加于水平或垂直耦合板上。为确保测试结果的重复性和一致性，静电放电试验必须按照GB/T17626.2第7章节内容规范布置。ESD61000-2静电放电发生器校准数据如下：
校准数据：
