图2：BLE DUT的典型误包率(PER)曲线。
图 2 所示为BLE设备的传统PER曲线。PER曲线对曲线50%点处的射频电平变化最为敏感，因此快速PER算法会搜索此50%点。在射频电平变动期间，大多数的数据包在接近50%点的射频电平下发送；由于算法在此50%区域上收敛，因此，射频电平步长也会调整为更小值。这种DUT接收机灵敏度测量方法具有很好的准确和可重复性，并且需要的数据包数量很少，与在一系列不同射频电平下使用大量数据包的传统蛮力PER扫描方法相比，所需数据包数不足其 5%。
总结
射频设计人员需要使用最终设计来验证可交付产品的性能，而不能仅仅依赖于板级测量，板级测量测得的射频性能可能与成品的真实情况存在很大偏差。在制造过程中，测试工程师通常无法使用板级射频和数字连接，因此他们需要使用无线式的快捷测试方法来获得准确且可重复的结果。 OTA BLE测试解决方案可以帮助技术人员有效解决在测量中的这些关键挑战。借助这些系统，工程师可以构建更好的设计，同时制造商也可以使用参数化数据来验证制造质量。 对于BLE设备而言，一旦无法获得良好的无线通信，设备将无法正常运转，因此无线性能显得至关重要。如今，这些BLE OTA测试解决方案将有助于相关人员设计出更优秀的产品，同时帮助制造商制造出符合要求的产品。
