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低频RFID测试方案


时间:2018-04-13 作者:田仁俊
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传输频率误差:通道中心频率与频谱仪中心频率之差,差值为-13Hz。

信道功率:

测量积分带宽500Hz内的功率,为-59.84dBm,同时将积分带宽内的功率归一化到1Hz得到功率谱密度数值为-86.83dBm/Hz。



频谱监测:

用色温表示频谱的能量



另外,SSA3000X系列频谱仪还可测量三阶交调、时域功率、邻道功率比等,由于此为低频读写模块,测试较为简单,暂不做上述分析。

示波器解码:

使用ID卡对读写模块进行测试,当ID卡在读写模块天线处被感应时,读写模块收到信号,会从蜂鸣器、LED灯和TXD管脚分别输出信号。

用SDS1204X-E示波器标配的串行总线解码功能对TXD输出TTL-RS232信号进行解码。

解码设置:

波特率9600bps,无校检位,数据8位,1停止位,空闲电平为高电平,比特流格式LSB,解码输出ASCII码。



解码输出10位卡号为1400903AA9。

用多个ID卡测试,发现此读写模块输出正常:




但是由于此读写模块工作频段为低频,射频输出功率小,检测ID卡的距离十分有限,约只有五厘米。


测试总结:

以上就是关于低频RFID的简单测试流程。低频RFID主要应用于低端技术范围内,技术要求和测试流程相对简单。高频和超高频RFID测试标准更加注重信号质量,即需要对信号进行IQ解调曲线和数据分析,ASK/FSK解调分析等。

关键词:RFID测试 无线电讯号测量 频谱分析仪    浏览量:3768

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