1、市场趋势和测量需求趋势
为了应对网络、服务器和存储速度和容量的快速提高的需求，促进了100GbE，400Gbp和1Tbps的通信系统的开发。而超过30Gbps的速率接口被这些系统所采用。
当处理高于30Gbps速率的信号时，相比传统较低速信号具有更大的挑战。本文描述了如何处理时钟和数据信号的传输差异，进行高速信号的抖动容限测试，以及处理高速传输的差分信号。
2、测试准备
准确的测量要求正确使用测量仪器。此外，也需要正确理解仪器的限制。超过这些限制的测量通常测量的是仪表自身的特性，而非待测件(DUT)的特性。例如，当使用采样示波器进行波形测量时，如果波形内包含由采样示波器带宽范围外的频率分量，那么输入波形的真实特性不会被显示，相反，显示的是采样示波器的特性。
对于抖动容限测试来说也是类似的，如果在测试中抖动超过了仪器中设置抖动容限，仪器的抖动容限而非DUT的抖动容限会被显示在结果中。如果测试仪器内部包含有D-flip-flop,FIFO,或者其他重定时电路或者类似时钟恢复的PLL电路，此类电路会成为抖动容限测试的瓶颈。当进行抖动容限测试时，知道测量仪器的实际测试性能限制非常有必要。
即使在测量系统中的测量仪器有足够的抖动容限，测试结果也许会比DUT实际特性更差，取决于实际设置。最近数据信号速率提升要求严格评估抖动的影响，以保护信号传输质量。由于噪声环境的不利影响(例如来自电源、热量及PLL)，测试器件抖动的注入变得愈发复杂和快速，并且总抖动量呈现上升趋势。在这些条件下，抖动容限测试必须考虑过去不会构成大问题的项目的影响，例如测试系统中时钟和数据信号的路径长度差异。
下一节介绍处理时钟和数据路径长度时的注意事项。
3、时钟和数据路径长度的差异
本节描述测量系统中时钟和数据路径长度，以脉冲码型发生器(PPG)通过待测件和时钟恢复单元(CRU)链接至误码检测器(ED)为例。
图 3.1:抖动容限测试系统
DUT的数据输出链接至CRU。CRU将数据信号分为两路：一路通过直接通过，未改变信号后进行输出，另一路连接至时钟恢复电路。CRU输出数据信号，时钟信号从数据信号中恢复。此处，比较了时钟的定时和CRU的数据输出。由于数据经由CRU 被简单分割，数据会通过一个更短的路径。同时，时钟信号基于数据信号恢复，时钟恢复电路本身会有一些延时。因此，相较于数据信号，时钟信号会有更长的路径。
图 3.2:CRUI/OTiming
图3.2展示的并非突发数据输入直到时钟恢复的时间。而展示的是特定数据交叉点和相位对齐时钟边缘，其中Di是 CRU输入数据， Do是CRU 输出数据， Co是CRU恢复的时钟输出。
虽然使用实际CRU无法确定数据边缘定时相位是否对齐，但如果相位对齐，逻辑上我们可以得出结论，即使在比较满的比特率下，图3.2中的Dt和Ct时间也不会改变。图中Dt 是从数据输入到CRU 至输出的数据传输延迟，Ct是从数据输入到CRU至恢复时钟输出的延迟。
虽然我们不能通过观察单个比特率下的Co和Do波形，来确定Dt和Ct的边倾角是否恒定，但是我们可以通过观察多个比特率下的波形来识别Dt和Ct恒定的数据和时钟边缘。无论比特率如何，Dt和Ct之间的关系是恒定的，这种关系被称为“绝对相位对齐”。
图 3.3:CRUI/OTiming(低比特率)
