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如何进行5G/毫米波产品性能测试


  来源: 虹科电子 时间:2020-11-11 编辑:仪器仪表WXF
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在卫星通信中,随着24-100GHz频段5G-NR(新无线电)的发展,波束形成是实现相控阵和毫米波天线的关键技术。设备制造商现在正在开发具有5、9甚至17个毫米波端口的多端口波束形成设备,重点是为5G NR网络批量提供这些设备。对于生产测试应用,设备供应商正在寻找能够支持多站点、高性能的毫米波测试功能的测试解决方案。


这些装置的试验要求包括:

•发送和接收信号路径的S参数表征(S11、S12、S21和S22)

•互调失真

•增益和相位性能与可编程增益和相位设置之间的关系

•接触测试

•电源测试-Iddq、Iddq@T/R关/开、Iddq@休眠

•SPI数字接口控制

•DUT寄存器写入/读取测试

                                               

实验室和生产测试的强大测试功能

 

为了满足这些测试要求并为生产测试应用程序提供高吞吐量,测试平台需要提供多端口VNA测试功能。MTS的基于PXIe的TS-900e-5G为实验室和生产测试环境提供了多端口毫米波 VNA仪器,数字测试功能以及高性能的接收器接口。

   

对于此特定应用,测试应用需要支持四个44 GHz波束成形设备,每个设备具有五个端口-总共需要20个VNA端口以支持S参数测量的全部补充。另外,为此应用设计的负载板要求其能够支持手动设备插入或自动化处理程序的接口。负载板(下图)由10层构成,并使用Rogers 3003层压板。仿真结果显示了其在50 GHz下的出色性能。负载板支持手动和自动设备插入。


为确保在DUT处进行精确的VNA/S参数测量,需要校准至基准面——最好是在DUT。下图详细说明了从仪器到DUT的信号路径组件。


通过采用两种标准校准方法将基准面移动到接收器接口,然后使用单端口自动夹具移除(AFR1)方法从打开的夹具(DUT从插座中移除)中提取S参数,可以将基准面移动到DUT接口。


完整的系统配置包括多个2端口VNAs,2个GX5295数字I/O模块,一个GX3104 4通道SMU和ATEasy测试开发软件。


该系统展示了所有设备端口的可重复射频性能,确认了接收器接口和DUT加载板的完整性和性能。而对于单个设备,整个测试时间不到15秒,证明了通过PXIe架构和仪器可以实现的高性能。此外,由于VNA端口数较高,多站点测试提供了较好的测试时间。


关键词:5G 毫米波产品 性能测试    浏览量:3311

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