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TH510系列半导体C-V特性分析仪,双CPU架构让测试精彩无限


  来源: 同惠电子 时间:2022-09-06 编辑:清风
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研究背景


自1949年新中国成立,我国便开始孕育中国的半导体产业,随着科技更新迭代迅速,目前,我国已成为全球第一大半导体市场,并且保持较高的增长速度。



科技创新是第一生产力, TH510系列半导体C-V特性分析仪是同惠电子针对半导体材料及器件生产与研发的分析仪器。


TH510系列半导体C-V特性分析仪创新性地采用了双CPU架构、Linux底层系统,10.1英寸电容式触摸屏、中英文操作界面、 内置使用说明及帮助等新一代技术,测试频率为10kHz-2MHz,VGS电压可达±40V,VDS电压可达200V/1500V/3000V,足以满足二极管、三极管、MOS管及IGBT等半导体器件CV特性测试分析,适用于生产线快速分选、自动化集成测试及满足实验室研发及分析。


▮一体化设计,四种寄生参数同屏显示,让细节一览无遗



10.1英寸触摸屏、1280*800分辨率,Linux系统、中英文操作界面,支持键盘、鼠标、LAN接口,带来了无以伦比的操作便捷性。MOSFET最重要的四个寄生参数:Ciss、 Coss、Crss、Rg在同一个界面直接显示测量结果,并将四个参数测试等效电路图同时显示,一 目了然。多至6个通道测量参数可快速调用,分选结果在同一界面直接显示 。


▮列表测试,灵活组合



TH510系列半导体C-V特性分析仪支持最多6个 通道、4个测量参数的测试及分析,列表扫描模式支持不同通道、不同参数、不同测量条件任意组合,并可设置极限范围,并显示测量结果 。测量参数可快速调用,分选结果在同一界面直接显示 。


▮曲线扫描功能(选件)



TH510系列半导体C-V特性分析仪支持C-V特性曲线分析,可以对数、线性两种方式实现曲线扫描,可同时显示多条曲线:同一参数、不同Vg 的多条曲线;同一Vg、不同参数多条曲线 。


▮简单快捷设置



参数可以任意选择,可打开及关闭,关闭参数可有效节约时间和数据传输;延时时间可自动设置或自行设置;栅极电阻可选漏源短路或漏源开路。采用图形化设置界面,功能参数对应原理图设置一目了然。


▮10档分选及可编程HANDLER接口



仪器提供了10档分选,为客户产品质量分级提供了可能,分选结果直接输出至HANDLER接口。在与自动化设备连接时,怎么配置HANDLER接口输出,一直是自动化客户的难题,TH510系列将HANDLER接口脚位、输入 输出方式、对应信号、应答方式等完全可视化,让自动化连接更简单。


▮支持定制化,智能固件升级方式




关键词:TH510系列半导体C-V特性分析仪 半导体 测试    浏览量:4853

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