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技术文章 | VNA窗口和门控功能在PCB阻抗测量中的应用


  来源: 安立通讯科技Anritsu 时间:2023-02-10 编辑:清风
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如前所述,窗口可能会对有效分辨率产生不利影响。为了获取最佳分辨率,可以在频域中使用矩形窗。分辨率越高,上升时间越快。这样做的代价是会有较大的旁瓣,从而产生较大的振铃。当辨别DUT上的多个反射点时,旁瓣就是个问题了。在这些情况下,低旁瓣窗口功能是比较理想的。如果DUT在频带边缘具有小的反射,例如测量末端接上负载的空气线,此时应该选择使用更高的分辨率。图4是利用矩形窗和相关旁瓣的测量结果。


图4.利用矩形窗提高分辨率,凸显测量结果


VNA中的时域门控功能


测量阻抗的另一个有效工具是门控功能。时域门本质上是时域中的滤波器,用于去除特定的不连续性,例如测试夹具、电缆或连接器。去除任何不连续后,可以对微波电路的性能进行更准确的测量。某些VNA允许用户轻松控制不同的门控功能及其宽度,以观察门控频率响应以及时间门控响应。


由于在测量中排除了不必要的影响,因此消除了频域响应中的误差或纹波。就像在窗口中一样,VNA需要提供门函数选择,以便用户可以在分辨率与波纹之间选择最佳的平衡。


在时域响应中乘以门控窗口函数,并通过离散傅里叶变换将其转换到频域,可以更详细地查看和分析门控频率响应或阻抗。


总结


在高频PCB设计中,VNA能够以高精度和重复性经济高效地测量阻抗。某些功能,包括窗口功能和时域门控,更是工程师进行详细设计分析的利器。


作者:Anritsu Company

翻译:袁彬彬,安立公司高级工程师


关键词:安立 PCB 阻抗测量    浏览量:2060

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