一、概述
开关系统是任何的测试系统中的关键的部分，它们允许客户通过不用的方式来连接测试仪器和被测件，从而确保了在测试的过程中被测件的不同的部分可以连接到测试仪器中，从而减少了需要用来测试的仪器设备。
很多用户可能会想到开关系统作为系统中的关键的部分，会由于各种原因而损坏，而不是因为开关系统本身不可靠。因为开关系统所处的位置是非常容易受损的，所以，意外的发生的可能性就更大了。
开关系统是基于继电器开关的，是属于机械装置，所以是有一定的使用寿命的，但是高性能的继电器的使用寿命是很长的。典型的电磁继电器（EMR）在小负载的情况下，寿命一般在1000万次，仪器级的簧片继电器拥有超过10亿次的操作次数。影响寿命的主要的因素是测试系统中的负载的特征还有开关的切换的位置的信号特征。不管是电子设备或者是继电器切换的信号是非常高的电压或者是电流，或者是在热切换（切换的时候，开关是带有信号）的情况下，将会产生电弧，从而腐蚀开关触点。
热切换对继电器的使用寿命影响很大，冷切换和热切换的影响往往是想差3个数量级的。研发者尝试着减少热切换的影响，但是事实上，很多测试由于时间方面的限制，是需要进行热切换的，这样可以防止在测试的过程中系统的重新启动或者是确保可以模拟间歇性的故障。热切换是研发者避免不了的。
其实测试系统中很多的故障不是由于继电器的正常寿命已经到了而引起，一些故障是在生产的阶段就无法进行检测而引起的。很多的故障是在测试系统中的一些意外的情况而引起的。一个经常发生的情况是系统的集成而引起的，例如由于不该连接的地方连接，如与电源之间的短路或者是在电容性的负载上进行热切换，从而引起的布线和软件方面的故障，从而影响到继电器。继电器可以阻挡部分的损害，但是随着系统的使用，继电器使用的寿命将会大大地缩短。就算正确地操作系统，但是如果进行一些故障的设备测试，这个也会给开关系统造成很大的压力。
二、开关故障诊断方法
由于开关系统的易损性，这就要求用户采用一些针对开关系统的测试检验的方式。在一些平台上，例如VXI，就曾经提供过一些继电器的检测的方法。这个方法包括了能够一些不太协调的自检方式，有时候它只是检测控制系统，而不是继电器的连接（其实这部分是很容易损坏的）。一些产品也可以检测继电器的连接，但是不能检测隔离继电器。VXI的产品包括了这方面的功能，是因为VXI的主要用户是军工和航空航天方面，这些测试的环境是非常差的，而且很少有空间可以进行自主检测。
其他的产品，如PXI，PCB板的大小有限，就很难提供自检工具。在自检工具的设计研发阶段，这些工具占用了很大的空间，这就减少了模块的密度，同时增加了成本。
由于成本和空间大小的限制，很多继电器的供应商会增加一种工具来解决这个问题，如继电器的操作次数的统计软件。在这个软件中，会统计继电器的操作的次数，从而在将要接近操作寿命的时候，将继电器更换掉。
