图1 热试验系统框图
结构热试验中，温度是代表结构热响应的基本参数，以仪器舱热环境试验为例，舱内温度测量数据是评价仪器舱防隔热设计优劣的依据。在按温度程序控制的热试验中，试验件表面温度是参与过程控制的闭路系统反馈信息，同时也是总体防隔热设计及其优化的依据。
3、红外点温仪波长选择
红外点温仪根据波长分为短波、中波和长波三种不同的类型，波长范围分别为0.7～2μm，3～5μm， 8～14μm。波长越小，测温越高。由于长波的红外点温仪测温范围为﹣40～800℃，不能测量1000℃以上的高温，所以不选择长波红外点温仪。
由于石英灯加热器的红外波长范围为1～4μm，如果采用短波红外点温仪，会引入有很大的干扰，甚至测不到数据。
基于以上的分析，选用中波型红外点温仪，具体参数为:测温范围为250～1650℃，光学分辨率70:1，光谱响应5μm，响应时间60ms。
4、试验验证
为了验证红外点温仪在热辐射环境下测温的适用性，进行了纯热试验，试验系统如图2所示。
在一块100mm×100mm的陶瓷小板中间位置，粘接两个热电偶传感器，测点编号为T1、T2，同时，红外点温仪也测量此处的温度，测点编号为TDW。热试验的加热系统由石英灯加热器、电功率调节装置、测量热量的传感器、控制用计算机等部分组成，与试验对象一起，构成闭路控制系统。加热过程中，通过传感器实时采集试件表面吸收的热流密度或温度数据，与相应时刻的程序给定值进行比较、运算，得到的偏差量经“数——模”变换后，输给电功率调节装置，调节石英灯两端的电压，实现加热自动控制。
图2 试验系统示意图
小板试件表面涂覆一层黑度系数（发射率）大的吸热涂层，这样既有利于提高表面发射率又提高了加热效率。采用红外测温仪和热电偶可以在试验室的条件下相对准确的测出物体的发射率：即在物体表面布置热电偶采用热电偶和红外测温仪两种方法测量温度，通过修改设置红外测温仪的发射率值使得两者一致，此时的发射率即为被测物体表面在该温度下的发射率。
为了验证发射率对测量精度的影响，同时也为了测出发射率的大致走向，在试验中，手动改变了发射率的值，20～500℃，陶瓷小板的发射率设定为0.98，随着温度的升高，发射率降低，500～800℃设定为0.80，为了和热电偶比较，温度最高控制为800℃。试验获得的温度测量曲线如图3所示。
