缩短多天线校准所需的测试时间

 对有源天线阵列进行校准需要很长的生产测试时间。大型阵列可能包含成百上千个阵元，有必要通过表征这些阵元间的相位和增益关系，以确保精密的波束赋形。而且，进行阵元调整所需的测试时间会随着阵元数量的增加而大幅增长。因此，使用多个相参测量通道能够有效地缩短测试时间。
      现在通常使用一台多端口网络分析仪在天线上执行相对增益和相位测量，一般是通过开关矩阵对所有的天线端口或通道执行这种测量。这会产生很长的测试时间，尤其是对包含成百上千阵元的阵列。
      可以用多种方法来缩短校准相位阵列天线所需的测试时间。其中最有效的方法应当是充分利用测试覆盖范围及其特定的天线体系结构。从根本上讲，对天线的阵元进行相对调整需要通过相对幅度（增益）和相位测量来实现。不过，这些测试需要由用户使用射频/微波探头在测试覆盖范围内的各种频率和相位 AUT 状态下进行。
      为应对大规模、多通道天线校准的挑战，是德科技推出了一种校准参考解决方案（图1）。该参考解决方案是硬件、软件和测量专业知识的集成，为窄带天线校准测试系统提供关键组件。
M9703A 具有实时 DDC 功能和超高带宽，可作为该测试系统的解决方案，特别适用于校准应用。其多模块处理同步功能可提供卓越的通道间相位相参性。虽然参考解决方案针对的是窄带测量，但是M9703A也能捕获带宽更宽的信号（使用 DDC 特性时可达300MHz，不使用DDC时可达 600MHz）。假设大多数相位阵列天线都是在射频/微波频率上，并且使用一个中频数字转换器，此时有必要利用模拟混频技术将捕获到的信号下变频至 M9703A 通带内的中频。这可以通过 PXI 4通道下变频器来完成。这款PXI仪器还提供了信号调节功能，使下变频器输出与数字转换器输入相匹配。