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解读:4G测试考量与未来演进


时间:2015-12-09 作者:五五
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        为了解决测试时间延长这一难题,芯片组供应商采取“测试序列”(类似于芯片内部预先设定的测试程序),芯片组可以读取预先设定的条件,因此用户无需直 接指示装置在哪个信道以及功率进行传输。这将最大程度减少用户和设备之间的来回往复,而这也是突破测试时间的几大瓶颈之一。由于芯片组公司对序列技术不断 改进并进一步缩短了测试时间,因此目前所面临的最大挑战是支持越来越长的序列和极其微小的步长(每步短至1毫秒)。这就对测试仪序列架构的灵活性和测试设 备的信号发生器和分析仪的建立时间提出了要求--测试仪和设备都需要在不到100微秒(1毫秒的十分之一)的时间内准备就绪。
       为完美的解决这一问题,作为测试企业LitePoint一直与芯片组公司建立有紧密的合作关系,能够在芯片开发的初期就参与到芯片组的开发中来,因此 LitePoint 能够为客户测试产品提供根据完善、优化的解决方案从而帮助客户最大程度提高生产效率,把握上市先机并确保产品品质。LitePoint自成立以来就致力于 通过最先进的技术帮助客户扩大产能并为消费者带来良好的使用体验,LitePoint的测试方案能够帮助客户应对新技术所带来的挑战。
       LitePoint公司产品营销总监 Adam Smith强调,4G正在成为主流,这是显而易见的。然而LTE的潜能还远远没有发挥出来。

关键词:仪器仪表 测试测量 4G    浏览量:466

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