当前位置: 首页 » 行业聚焦 » 新品快报 » 正文

扰乱光的偏振态,让测试更精准——Ceyear 85200B光扰偏器!


  来源: 电科思仪 时间:2023-09-19 编辑:清风
分享到:



随着高速光通信的快速发展,光的偏振特性越来越受到重视,尤其在密集波分复用中使用的无源光器件都具有偏振相关损耗,传统的插入损耗测试方法很难准确表征器件的损耗;另外,在分布式光纤传感中,偏振扰动会将相干后的待测信号淹没。为了有效解决以上问题,电科思仪实现光扰偏技术突破,推出全新Ceyear 85200B光扰偏器,该产品具有扰偏速度快、扰偏效果好、成本低等多种优点。典型指标包括:扰偏速率>1.2MHz;扰偏后偏振度<5%;产品可工作在O波段和C波段。


图 1 Ceyear 85200B光扰偏器实物图


1、光扰偏器的工作原理

用较高的速度不断改变输入光的偏振态,在一段时间内,偏振态均匀覆盖整个邦加球,在该时间窗口平均后,作用效果等效为非偏振光,进而消除偏振抖动对测试的影响。改变偏振态的方法一般基于弹光效应或电光效应,Ceyear 85200B光扰偏器基于前者,采用全光纤方案,具有低插入损耗和低偏振相关损耗优点。


2、光扰偏器的核心指标

扰偏后偏振度,表征经过光扰偏器的光在邦加球覆盖的均匀程度。偏振态稳定的光在邦家球的球面上表示为一个不动的点,该光经过光扰偏器,在短时间内偏振态布满整个球面,偏振态在邦加球覆盖的越均匀,说明光扰偏器扰偏效果越好,如图2。


图 2Ceyear 85200B光扰偏器扰偏效果示意图


3、在光芯片生产过程插入损耗测试应用

利用常规方法测试硅光芯片的插入损耗,由于芯片固有的偏振相关损耗,测试结果受输入光偏振态影响大,重复性差。使用Ceyear 85200B光扰偏器对入射光进行扰偏后再进行测试,能够准确测得待测件的平均插入损耗,降低偏振态变化对测试结果的影响。图3为该模块利用本公司Ceyear 9951A光波测试平台,并搭配平台可选光源、光开关和光功率计等模块,实现的硅光芯片插入损耗测试一体化平台实物图。基于Ceyear 9951A光波测试平台,选配多种可插拔光电测试模块,还可实现多种其余光电测试方案定制开发。


图 3光芯片插入损耗测试平台框图和实物图


4、光纤传感中偏振扰动抑制应用

在光纤传感领域,尤其涉及相干光纤传感领域,传感系统的偏振扰动会在相干过程中叠加到信号中,降低信噪比,甚至将待测信号淹没。将Ceyear 85200B光扰偏器插入相关光路中,在一段时间内累加平均,可降低偏振扰动对系统的影响,增强系统抗干扰能力,如图4为加入光扰偏器前后测试结果的对比。


图 4光扰偏器在相干光纤传感领域应用效果示意图


关键词:电科思仪 Ceyear 85200B 光扰偏器    浏览量:7969

声明:凡本网注明"来源:仪商网"的所有作品,版权均属于仪商网,未经本网授权不得转载、摘编使用。
经本网授权使用,并注明"来源:仪商网"。违反上述声明者,本网将追究其相关法律责任。
本网转载并注明自其它来源的作品,归原版权所有人所有。目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如有作品的内容、版权以及其它问题的,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。
本网转载自其它媒体或授权刊载,如有作品内容、版权以及其它问题的,请联系我们。相关合作、投稿、转载授权等事宜,请联系本网。
QQ:2268148259、3050252122。


让制造业不缺测试测量工程师

最新发布
行业动态
行业聚焦
国际资讯
仪商专题
按分类浏览
Copyright © 2023- 861718.com All rights reserved 版权所有 ©广州德禄讯信息科技有限公司
本站转载或引用文章涉及版权问题请与我们联系。电话:020-34224268 传真: 020-34113782

粤公网安备 44010502000033号

粤ICP备16022018号-4