传统差分探头的共模抑制比随频率上升快速下降，无法准确测量高共模干下的小电压信号如半桥电路的上管驱动电压。致远仪器推出全新的ZOP5035光隔离探头，可保证全工作带宽内的高共模抑制比，更好的解决这一测量难题。
相比与传统差分探头，光隔离探头全带宽下都拥有更高的共模抑制比，可以实现高共模下的电压信号测试，同时搭配不同的衰减器，可以实现量程3V-2500V的宽压测试，ZOP5035详细参数如下图所示。
目前以SiC、GaN为代表的功率器件被广泛应用，功率半导体器件具有几十种参数来表征其特性，包括了器件的最值、静态参数、动态特性等。功率半导体测试中以动态特性测试最为复杂，针对器件动态特性测试，典型的就是双脉冲测试。如下图是一个典型的双脉冲测试模型，这也是ZOP5035典型的应用场景。
功率器件动态特性测量中（双脉冲测试），最难的部分就是对半桥电路的上管驱动电压VGS的测量，因安全问题无法使用无源探头进行测量的，且存在较强的共模电源，此时通常会选用差分探头进行测试，我们选用差分探头和光隔离探头进行测试对比，情况如下所示。
双脉冲测试过程
开通过程
关闭过程
通过对比我们可以发现在使用了光隔离探头后测到的波形明显更加平稳，震荡明显减轻。可见使用光隔离探头可以得到更好的波形和更准确的结果。
示波器是电子工程师的眼睛，探头是示波器捕获信号的重要纽带，选择合适的探头能够让我们对信号的分析更加准确和有效，致远仪器会不断推陈出新，为用户带来更多更好的产品。
