跳频源输出杂散是指跳频源工作在某一个稳定频率期间输出的杂散,对于跳频源的杂散测试需要在跳频源工作在f1或f2期间进行测试。如果需要对跳频源工作在f1频率时的输出杂散辐射进行测试，必须保证4051在跳频源工作在f1频率期间进行频谱测量，在其他状态停止测量，4051中的时间门功能恰好能够满足这一要求。
时间门是由用户定义执行测量的时间窗口，允许用户指定想要测量的部分信号，并排除或屏蔽无用信号。门控本振是一种非常巧妙的时间门测量方式，它只在门选通的时候扫描本振并通过信号。图1所示是门控本振的工作框图，门控信号控制着扫描发生器什么时候扫描，什么时候通过信号，这就使得4051只在门选通期间测量信号频谱。因此只要控制着4051在f1频率期间测量信号频谱，即可获得跳频源在f1频率周围的杂散频谱。
图1 4051门控本振工作原理图
方法一：外部触发门控信号测试杂散
图2时间门功能测试跳频源杂散连接图
跳频源射频输出接入到4051的射频输入端口，当跳频源工作在f1频点时，提供一个同步触发信号给4051的门控输入端口。打开4051的时间门测量功能，将中心频率设置成f1，频宽为希望测量的偏离f1的最大频率偏移的两倍，将时间门触发信号设置为外部门控输入，门宽度设置成T1，该数值必须小于跳频源工作在f1频点的最小驻留时间，此时4051输出的信号频谱即为跳频源工作在f1频率时的杂散频谱，利用差值频标功能即可获得杂散数值。
图3 跳频源输出信号、触发门控信号和时间门信号的时序关系图
图3给出了跳频源输出、触发门控信号、时间门信号之间的时间关系图。其中触发门控信号的上升沿或下降沿和跳频源切换到频率f1的时刻存在同步关系，4051仅在门信号为高电平的时间内进行频谱扫描测量。因此通过时间门预览功能调整门延迟和门宽度，确保门信号在跳频源输出频率f1时进行选通。
方法二：射频输入触发门控信号测试杂散
当无法提供控制系统或无法提供一个外部门控信号时，可以利用4051内部的射频输入触发信号作为门控信号，例如中频功率触发信号。
图 4 4051射频输入触发门控扫描原理图
4051在内部混频接收链路的中频部分都带有一个功率检波器，用于检测中频信号的功率，当检测中频信号的功率大于脉冲检测门限时，输出一个高电平的TTL信号，当检测中频信号的功率小于脉冲检测门限时，输出一个低电平的TTL信号。通常中频功率检波的中频带宽从10MHz到百MHz，因此如果使用中频功率触发作为门控信号，跳频源工作频点的间隔必须大于中频带宽，在|f2-f1|大于中频带宽时，4051中频电路中将会出现一个突发脉冲，中频触发检测电路将产生一个TTL的脉冲触发信号。依据该信号控制4051的时间门选通的开启和关闭，结合门延迟的调节，同样可以进行跳频源杂散频谱测试。图4分别给出了时间门功能关闭和开启测量的信号频谱。
图5（a）时间门关闭时的信号频谱
图5 (b) 时间门打开时的信号频谱
图5 时间门测量跳频源杂散输出测试结果示例
除了上述门控触发方式外，还可以使用4051提供的周期性触发信号、电源触发信号等作为门控信号进行杂散响应的测量。
