对于加硬件门情况的测试结果，通过图8可以看到，整体曲线同理论值是比较接近的，只是由于硬件的限制（脉冲调制器的脉宽无法做到比较窄），使得硬件门的脉冲宽度比较宽，门内部还存在着一些干扰无法滤除，导致频域曲线上有较多的起伏。从总体上看，硬件门的效果较好，能够避免软件门处理技术所引起的一些误差。但是对于脉冲RCS测试系统，有一个不利的因素是：为了去除场地干扰，要求脉冲占空比通常比较小（脉冲周期要求设置比较长以覆盖场地尺寸，脉冲宽度要设置的比较小以尽可能的滤除目标区域外的干扰），平均功率很低，对于窄带接收系统，由于脉冲退敏效应的影响使系统动态范围以10log(占空比)减小，降低了系统的测量能力。
5 结束语
由于硬件门在干扰去除上的技术优势，当前基于硬件门的脉冲RCS测试技术得到了较为广泛的应用。同时，针对硬件门在窄脉冲能力方面存在的不足，目前在很多场合都将硬件门同软件门结合起来使用，并获得了较好的效果。随着硬件技术的发展，目前具有纳秒量级脉冲宽度、超宽带中频采集处理能力的高性能脉冲RCS测试系统也在RCS测试中得到了应用，并提供了更好的干扰去除及小RCS测试能力。
