另一种减少测试时间的方法是通过向多个DUT发送相同的波形来同时执行多个RX测试。通过将每个DUT分配到相应的软件线程，所有DUT均可同时启动。使用如图5所示的技术，多DUT的测试时间相比流水线测试可减少25%，相比串行测试设备可减少超过50%。
图5：并行RX测试时间框图
F.其他多DUT测试方法
流水线和并行RX测试仅仅只是两个例子来说明如何提高WLAN制造测试的吞吐量而无需添加额外测试设备。由于测试软件变得日益复杂且设备控制驱动程序针对测试不断进行优化，新的测试方法将继续涌现以帮助设备制造商不断提高测试吞吐量，降低测试成本，同时跟上未来无线技术发展的步伐。
III.多DUT制造测试方法
选择用于并行多DUT WLAN生产测试的测试设备时，必须确保所选的设备采用了最新的商业现成可用(COTS)技术，以在最大程度提高当前吞吐量的同时，获得针对未来需求的可扩展性，包括从多核CPU处理器和用于数据分析和数据传输的数据总线，到用于管理并行测试的多线程软件架构。
A.多核处理器和仪器数据总线
通常RF测试系统中最昂贵的部件是用于生成和接收RF信号的电路。许多其它组件，如存储器、硬盘驱动器和CPU处理器常见于个人计算机，因此产品生命周期较短且非常廉价。选择测试系统时，还需要确保该系统易于根据市场上出现的新COTS进行升级。
PXI是一种基于PC的坚固测试平台，提供了用于测量和自动化系统的高性能、低成本部署解决方案，包括无线产品生产测试。PXI结合了PCI Express的电气总线特性与坚固的机械封装，并增加了用于制造测试的专用同步总线和主要软件特性。这种强大的组合为设备制造商测试提供了目前市场上具有最高吞吐量和最低延迟数据总线的解决方案之一，它显著地降低了测试时间。PXI的另一个优势是嵌入式计算机，通常也称为PXI嵌入式控制器，其在紧凑的外形结构中提供了最新的高新能CPU处理器。这种模块化特性可允许用户在出现新技术时以相对低的成本升级整个无线测试系统。
图6：NI PXI Express机箱包含射频分析仪和发生器、矢量网络分析仪、开关、电源和嵌入式计算机
B.多线程软件架构
正如本文前面例子中所提到的测试方法，在选择大规模多DUT无线制造的测试系统时，系统的软件架构必须具有多线程且可进行并行测试。NI LabVIEW是一种具有内在并行机制的图形化编程语言，非常适用于多DUT制造测试。相对于顺序语言，LabVIEW图形化数据流程序本身包含有哪些部分可以并行运行的信息。
