较低的信噪比SNR，对噪声更敏感
④TX/RX的设计更复杂，成本更高
图3数字信号频谱分布
数字信号的频谱，无论是NRZ还是PAM4调制，或是PRBS的任意编码形式，其频谱都呈sinc函数型（如图3），因此我们很难在频域上解析信号中的信息，因此如果想去解析传输信号中包含的信息，我们通常是在时域上进行解析的。
而测试眼图或者误码率就是在时域上评判系统的优劣，如果眼图和误码率都能满足指标要求，那说明系统的功能是优异的，该系统可以无失真的传输信号，而反之，如果测试发现眼图或是误码率都不能满足指标要求，眼睛睁不开，或者误码率很高，那么我们就要考虑是否是组成系统的器件的性能出现了问题。
器件性能对信号传输最主要的影响就包括器件带宽的影响，因此，当单路速率比较高时，我们通常都会去测器件的频域性能，即频率响应。
如图3所示的时域信号，转换到频域上我们可以看到，是一个sinc函数的包络，该频谱的主要频谱能量都分布在sinc函数的第一过零点以内，第一过零点是由比特率来决定。从频谱分布来看，可知比特率越高，上升时间越小，信号所占用的频谱带宽就越大。
因此，当我们传输速率比较高的时候，就需要保证器件的带宽足够大，这样才能够满足无失真传输大带宽信号的条件。而光波器件分析仪LCA的主要功能就是测试光电器件的频域特性的。
时域测试与频域测试并不是完全独立的，他们是有一定关系的。
时域测试时，在整个测试链路中传输的信号是数字信号，从频域上看所有的所有频率分量虽然幅度各不相同，但它们是同时存在于测试链路中的，如图3所示。
而频域测试，每一时刻，链路中只存在一个单独的频率分量，每一时刻都测量一个单独的频率分量下的器件性能，信号频率随着时间扫描，从测试的起始频率扫描到终止频率，最终获得整个测试带宽的频率响应。
保证器件的带宽是足够传输高速信号的，这一步叫做器件的性能测试。
性能测试通关之后才会进行封装，封装后还要进行时域的测试，这一步通常叫做功能测试。
因此对于一个合格的器件的生产，尤其是高速光通信器件，频域和时域的测试都是必不可少的。如图4，就是一个光模块的生命周期，以及他们这个周期中需要经历的测试，在光模块出厂之前，需要分别经历晶元的生产，电路集成，晶元测试，切割，校准，封装，功能测试等流程，其中晶元测试我们一般会测器件的波长域的性能以及频域的性能（光电元器件分析仪完成），在封装后，要进行功能性测试（时域测试，眼图误码等）。
图4光模块的生命周期
