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光器件WDL和PDL的波长快速扫描测试方案


  来源: 思仪科技 时间:2024-03-20 编辑:清风
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随着社会对流量的爆发式需求,光通信速率已经步入1TBit/s门槛,光通信系统中光器件的波长相关损耗(WDL)和偏振相关损耗(PDL)的影响不容忽视,如何降低测试成本和难度,增加测试速度和精度越来越成为测试人员关注的焦点。针对WDL和PDL的参数快速测试难题,“思仪科技”最新开发了波长快速扫描测试方案(图1)。


图 1  波长快速扫描测试方案


本方案结合公司自主研发的6317A可调谐激光源、9951A光波测试平台,集成相关算法,优化了波长快速扫描测试。关于WDL的测试方法行业通用,但是PDL不同测试方法有不同适用场景(如下表所示),综合各测试方法的特点,穆勒矩阵法更适合 PDL波长特性的测试,因此本方案采用穆勒矩阵法。



通过实际的测试验证,“思仪科技”的波长快速扫描测试方案能够快速、准确地给出的WDL、 PDL测试结果,该方案体积小,集成度高,测试仪器由多台精简到两台,并可根据测试对象、测试需求扩展光衰减器、光开关等模块,降低了测试成本50%以上。方案最小采样时间可以达到10μs,准确度(典型值)可以高达 ±0.02dB(测试效果图2所示)。


图 2 波长快速扫描测试软件(可定制)


“思仪科技”开发的波长扫描快速测试方案可以快速完成光器件的WDL和PDL测试,可光广泛应用于波分复用模块(DWDM、CWDM)、波长选择开关(WSS)和集成光芯片的研发、生产和测试,同时该方案编程控制方便,可根据实际需求定制软件并集成,实现一机灵活多用。波长快速扫描测试方案指标如下:


·工作波长:1480nm~1610nm

·扫描速度:1nm/s~200nm/s

·最小采样时间:10μs

·PDL准确度(典型值):±(0.02+3% PDL) dB

·PDL重复性(典型值) :±0.01dB

·WDL准确度(典型值) :±0.02dB

·WDL重复性(典型值) :±0.01dB

关键词:思仪科技 光器件 测试方案    浏览量:4040

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