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基于FPGA低成本数字芯片自动测试仪的完整方案


  来源: 仪器仪表商情网 时间:2015-07-28 作者:
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研究创新点:

1、低成本、高性价比;

2、具有开放架构;

3、体积小、便携.

项目实施方案

Flash存储器的故障类型:

1)固定型故障(SAF故障):存储单元恒定的存储10的功能型故障。

2)变迁故障:存储单元不能从0状态变迁到1状态()或者不能从1状态变迁到0状态()的故障。

3)耦合故障(CF故障):一个存储单元的值可能因为其他存储单元状态的改变而变化的故障。其形成的原因有短接或寄生效应。

耦合故障有三种形式:反相、同势、桥接/状态。

反相(CFins):一个存储单元的状态变化引起其他单元值变反的现象。

同势(CFids):一个存储单元的状态变化引起其他单元的值为一特定的逻辑值(01)的现象。

桥接和状态(SCF):一个存储单元的确定状态导致另一个存储单元处于特定状态的现象。

关键词:测试,电路,芯片    浏览量:414

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